In-situ observation of 3 dimensional meso-scopic structures of metallic materials by coherent x-ray diffraction microscopy

コヒーレントX線回折顕微鏡(CXDM : Coherent X-ray diffraction microscope)法を用いて、金属材料中のナノ組織観察の方法を確立することが本研究の目的である。軽量・高強度材料として実用上重要なアルミ基、マグネシウム基合金中の微細組織観察を通して、このCXDM法の金属材料に応用する場合の問題を明らかにし、それらを解決して、CXDM法を金属材料中の微細組織観察のための材料評価技術として確立する。CXDM法では、試料から得られるスペックルパターンと呼ばれる鋭い回折強度分布を精密に測定し、反復位相回復法を用いて回折プロファイルから試料の透過像を得る。この際に、位相回復を正確に行うために、オーバーサンプリング条件を満足する必要がある。ただ、現状での検出器の測定領域の大きさと位置分解能による制約から、測定試料の大きさは直径1μm程度に制限されている。この試料の物理的大きさに制限されないタイコグラフ法と呼ばれる手法についても実験的に調べた。

コヒーレントX線回折顕微鏡(CXDM : Coherent X-ray diffraction microscope)法を用いて、金属材料中のナノ組織観察の方法を確立することが本研究の目的である。軽量・高強度材料として実用上重要なアルミ基、マグネシウム基合金中の微細組織観察を通して、このCXDM法の金属材料に応用する場合の問題を明らかにし、それらを解決して、CXDM法を金属材料中の微細組織観察のための材料評価技術として確立する。CXDM法では、試料から得られるスペックルパターンと呼ばれる鋭い回折強度分布を精密に測定し、反復位相回復法を用いて回折プロファイルから試料の透過像を得る。この際に、位相回復を正確に行うために、オーバーサンプリング条件を満足する必要がある。ただ、現状での検出器の測定領域の大きさと位置分解能による制約から、測定試料の大きさは直径1μm程度に制限されている。この試料の物理的大きさに制限されないタイコグラフ法と呼ばれる手法についても実験的に調べた。