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Development of Soft/Hard Co-Test Method for Embedded Systems

Development of Soft/Hard Co-Test Method for Embedded Systems
嵌入式系统软硬联合测试方法的开发
批准号：
18500055
负责人：
TAKAMATSU Yuzo
金额：
$2.56万
依托单位：
Ehime University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份：
2006
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2006 至 2008
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-18500055/
关键词：
組み込みシステムテストハードウエアソフトウエア協調テストソフトハード協調設計ハード協調テストテストケースソフトウエアメトリクス保守性ハードウエア記述言語

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本研究では, 組み込みシステムに対して自動的にテストケースを生成する手法を開発した. 開発した手法では, システムをハードウエアとソフトウエアにく別することなく, システム全体をテストすることが可能となる. また, テスト生成においては, 仕様で与えられたシステムの動作やテスト生成時の様々な制約を論理回路で表現し, ハードウエアテスト生成ツールを用いた手法を開発することで, 実用化が容易となるようにした.
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会议论文
原因-結果グラフを用いた組込みシステムに対する自動テストケール生成法
利用因果图的嵌入式系统自动测试量表生成方法
DOI： --
发表时间： 2008
期刊：
影响因子： --
作者： [藤尾昇平, 阿萬裕久, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三]
通讯作者： 高松雄三
直交表を用いた単体テストに関する考察 〜JUnit支援ツールの試作
使用正交数组进行单元测试的考虑 - JUnit 支持工具的原型
DOI： --
发表时间： 2007
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影响因子： --
作者： [山田輝, 阿萬裕久, 高松雄三, 山田 輝・阿萬 裕久・高松 雄三]
通讯作者： 山田 輝・阿萬 裕久・高松 雄三
ハードウエアテスト生成ツールを用いた組み込みシステムのテストケース生成について
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发表时间： 2008
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影响因子： --
作者： [高橋寛, 樋上喜信, 阿萬裕久, 釜山天平, 小林真也, 高松雄三]
通讯作者： 高松雄三
Diagnosis of Transistor Shorts in Logic Test Environment
逻辑测试环境中晶体管短路的诊断
DOI： --
发表时间： 2006
期刊：
影响因子： --
作者： [Y. Higami, K. K. Saluja, H. Takahasi, K. Kobayashi and Y. Takamatsu]
通讯作者： K. Kobayashi and Y. Takamatsu
共 18 条
    Study on Built-in Self Test and Fault Diagnosis for Very High Speed and Deep Sub-micron VLSIs
    • 批准号：
      15500043
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • 资助金额：
      $2.37万
    • 财政年份：
      2003
    • 负责人：
      TAKAMATSU Yuzo
    • 依托单位：
      Ehime University
    海外基金