免疫制御性細胞・補助刺激分子によるメモリーT細胞制御不全はAIHの再燃を惹起する

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§寛解期および再燃期における抗原特異的メモリーT細胞の動態*自己反応性T細胞のAICD回避動態の検討発症期から寛解期に移行する時期の肝内浸潤T細胞のFas受容体発現をFACSにより解析、Fas抗原刺激によるアポトーシス誘導をTUNEL法にて解析したところ、アポトーシス誘導が認められないことが明らかになった。また、bcl-2等のアポトーシス関連分子の遺伝子発現をRibonuclease Protection Assay法により定量的に解析したところ、抗アポトーシス分子の遺伝子発現亢進、向アポトーシス分子の遺伝子発現低下がみられた。以上より、寛解期では自己反応性T細胞のアポトーシスが遺伝子、細胞レベルで抑制され、AICDが回避されている可能性が示唆された。*メモリーT細胞の維持・増殖に関わるサイトカイン動態メモリーTの分化増殖、維持、機能発現に関与するIL-7、IL-15、IL-23それぞれの各病期の肝内mRNA発現量をRibonuclease Protection Assay法により定量したところ、いずれの遺伝子も再燃期で発現増加することが明らかにされた。また、メモリーTには作用せずナイーブTのみを選択的に増殖させるIL-21、IL-27の肝内mRNA発現量も同時に定量したところ、IL-7、IL-15、IL-23の結果とは逆に、IL-21、IL-27のいずれの遺伝子も発現低下していることが明らかになった。以上より、再燃期ではメモリー細胞の増殖がみられ、病態形成に関与している可能性が示された。