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微細加工技術を応用した単一細胞レベルでの力学刺激応答評価デバイスの開発

利用微加工技术开发单细胞水平的机械刺激反应评估装置

基本信息

批准号：
18700413
负责人：
佐藤克也
金额：
$ 2.3万
依托单位：
Yamaguchi University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
财政年份：
2006
资助国家：
日本
起止时间：
2006 至 2007
项目状态：
已结题

项目摘要

平成19年度は,前年度の成果を受け,デバイス本体の製作プロセス開発および試作機の製作を行った.シリコーンゴム製のマイクロチャンバーに引張りひずみを付与するための微小リンク機構の製作ではレフォトレジストSU-8の多重露光と表面層露光プロセスを応用することで,可動部を有する微小構造体を実現した.デバイス構造体の製作が可能となったことから,顕微鏡に取り付けた手動マイクロマニピュレータによって,試作したデバイスの作動試験を行った.その結果,マイクロチャンバーに単軸の引張り変形が付与可能であること.さらに引張り変形時にチャンバーの剛体変位が良好に抑制され,当初の目的であった引張り時における高時間・空間分解能観察が実現できる可能性が示された.これらの結果は現在,論文としてまとめられ日本機械学会論文集へと投稿・査読中である.また,論文投稿に先立ち,デバイス構造を特許として申請中である.マイクロデバイスの駆動に用いるマイクロアクチュエータの開発では,前年度の試作機から弾性電極の材質をカーボンブラック添加シリコーンへと変更し,さらなる性能向上を目指した.シリコーンゴム中へカーボンブラックを分散させ導電性を得るための条件検討を行い,良好な導電性を有した伸縮性導体の製作プロセスを開発した.この結果を受け,マイクロアクチュエータを試作し,動作試験を行ったところ,前年度のアルミニウム電極を用いたアクチュエータよりも低電圧で大きな出力変位を実現したアクチュエータが製作できた.しかしながら,伸縮性導体と伸縮性絶縁層を組み合わせた場合に,絶縁層の電流リークが顕著となり,複数回の作動でアクチュエータが破損に至る問題が生じた.この問題については研究期間内に解決に至らず今後の検討課題となった.

Heisei 19 years, the previous year's results were received, the production of the main body of the film, the development of the film and the production of the test machine. The micro structure of SU-8 is realized by using multiple light exposure and surface layer light exposure. The fabrication of the micro-mirror structure is possible. As a result, the axis of the extension is changed to give the possibility. The rigid body position is well suppressed, and the original purpose is to detect the high temporal and spatial decomposition energy. The results of this paper are presented in the Proceedings of the Japanese Mechanical Society. For submission of papers, the first step is to set up a structure and apply for permission. In the past year, the test machine has changed the material of the active electrode, changed the material, and improved the performance. The conditions for obtaining good conductivity are discussed, and the production of good conductivity and stretchable conductor is developed. The results of this test are as follows: 1. The test results of this test are as follows: When elastic conductor and elastic insulating layer are assembled, the current of insulating layer is not stable, and the operation of multiple circuits is not stable. The problem is solved during the research period and the problem is discussed in the future.