Local state analysis of interfaces and defect regions by spherical aberration corrected STEM-EELS

通过球差校正 STEM-EELS 对界面和缺陷区域进行局部状态分析

• 批准号: 19310071
• 负责人: KURATA Hiroki
• 金额: $ 10.15万
• 依托单位: Kyoto University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
• 财政年份: 2007
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2007 至 2009
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-19310071/
• 关键词: 電子顕微鏡; 球面収差補正; 電子エネルギー損失スペクトル; 界面; 欠陥; 電子エネルギー損失分光; ナノ計測; EELS; ナノ解析

New spatial-resolved spectroscopy analyzing local state of crystal materials has been developed by combining electron energy-loss spectroscopy with spherical aberration corrected scanning transmission electron microscopy. Using this method, we successfully detected the change of electronic structure arising from structural deformation in local area of transition metal oxides. The local changes of electronic structure and chemical composition of epitaxial thin films grown on single crystal substrates as well as the structures in the vicinity of interfaces have been analyzed.

将电子能量损失谱与球差校正扫描电子显微镜相结合，发展了一种分析晶体材料局域状态的新的空间分辨光谱。利用这种方法，我们成功地检测到了过渡金属氧化物局部区域结构形变引起的电子结构变化。分析了生长在单晶衬底上的外延薄膜的电子结构和化学成分的局部变化以及界面附近的结构。

项目成果

Local state analysis by electron energy-loss spectroscopy in a scanning transmission electron

扫描透射电子中电子能量损失谱的局域态分析

• 发表时间: 2009
• 作者: Golberg D.;Costa P.M.F.J.;Lourie O.;Mitome M.;Tang C.;Zhi C.Y.;Kurashima K.;Bando Y.;H.Kurata
• 通讯作者: H.Kurata

EELS study of CaCu3B4O12 (B=Ti, Ge, Sn): ELNES in oxygen K-edge and valence electron excitation spectrum

CaCu3B4O12 (B=Ti, Ge, Sn) 的 EELS 研究：氧 K 边和价电子激发谱中的 ELNES

• 发表时间: 2009
• 作者: H. Kurata;Y. Shinoda;H. Shiraki;Y. Shimakawa;S. Isoda
• 通讯作者: S. Isoda

Effects of helium irradiation on degradation of optical properties of single and polycrystalline Mo mirrors for

氦辐照对单晶和多晶钼反射镜光学性能退化的影响

• 发表时间: 2009
• 期刊: Phys.Scr. T138
• 作者: T. Imamura;他6名;K.Ono
• 通讯作者: K.Ono

P-type a-Fe203 nanowire and its N-type transition atreductive ambient

P型a-Fe2O3纳米线及其在还原环境下的N型转变

• 发表时间: 2007
• 期刊: Small 3
• 作者: 山崎陽;片岡隆史;坂本勇太;藤森淳;F.-H. Chang;H.-J. Lin;D.J. Huang;C.T. Chen;石川弘一郎;黒田眞司;Yu-Chen Lee
• 通讯作者: Yu-Chen Lee

Local analysis of BaTiO3/SrTiO3 interface by STEM-EELS

利用 STEM-EELS 对 BaTiO3/SrTiO3 界面进行局部分析

• 发表时间: 2008
• 作者: K. Kato;K. Ishioka;M. Kitajima J. Tangy;H. Petek;板東義雄;H. Kurata
• 通讯作者: H. Kurata