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金属ガラスの局所原子構造の球面収差補正電子顕微鏡による研究

使用球差校正电子显微镜研究金属玻璃的局部原子结构

基本信息

批准号：
18029011
负责人：
山崎順
金额：
$ 3.97万
依托单位：
Nagoya University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
财政年份：
2006
资助国家：
日本
起止时间：
2006 至 2007
项目状态：
已结题

项目摘要

金属ガラスの高いガラス形成能および安定化機構を解明する手がかりとして、中距離範囲秩序すなわちアモルファス母相中に点在する結晶性ナノクラスターの有無、サイズ、結晶構造を解明することが非常に重要であり、電子顕微鏡法を用いてこれらを検出する2通りの手法に取り組んだ。一つ目は収差補正TEMを用いた直接観察であり、高分解能電子顕微鏡像に一般に現れる偽像の除去法を考案し、シミュレーションと実験の両面から検証を行った。しかし、クラスターサイズが2nm以下程度に小さくなり、さらに晶帯軸から傾斜した場合、収差補正TEMを用いても格子像的なコントラストが得られず検出が極度に困難となることが明らかとなった。二つ目に、前年度に確立した、収差補正TEMの特長を生かした制限視野電子回折法(直径数nmの領域から平行ビーム照射の回折図形が取得可能)をZrNi系金属ガラスに適用した。直径100nmの領域から取得した通常の電子回折図形に現れるハローリングが、この手法では多数の斑点の集合として観測された。この回折図形のフーリエ変換、すなわち二次元パターソン関数を計算したところ、直径2nm弱に相当する範囲内に中距離範囲秩序構造と思われる格子縞が現れた。これは、アモルファス母相中に埋没している結晶性ナノクラスターを、本手法で検出可能であることを示す結果である。本研究では、TEM像では観察することが困難な金属ガラス中の結晶性ナノクラスターを検出する新たな手法として、電子回折を用いた全く新しい方法を確立することに成功した。本手法は、今後の金属ガラス研究の展開に非常に重要な役割を果たすものである。

The formation of a high-performance metal alloy can be used to understand the stability of the machine. The point in the mother phase of the mechanical system is very important. The computer micrometer method is used to determine the importance of the device. As soon as the system is used in the TEM, the high-resolution energy micrograph is used to observe the system directly, and the high-resolution energy micrograph is used to observe the image to remove the legal examination case. To the extent that the 2nm is below the level, the accuracy is small, the crystal is oblique, and the difference is that the TEM is using the grid image of the grid to make sure that the image is not clear. Second, in the previous year, it is possible to use the limited field electron back-folding method (the number of diameters in the nm field is parallel to irradiate the metal plate). It is possible to use ZrNi in the field of metal engineering. The diameter of the 100nm in the field is obtained. Usually, the electric device is folded back, and most of the speckles are collected in the same way. In order to make the order of the distance range in the range of the diameter of the 2nm, the order of the distance range in the range of two dimensions is calculated by the calculation of the number of two-dimensional data, and the order of the medium distance range in the range of the diameter of the Backfold. The mother phase is buried in the mother phase, and the crystal structure of the mother phase. This technique shows that it is possible to show the results. In this study, TEM images are used to monitor the performance of metal microscopes. In this study, the results show that a new method is used to detect the failure of the metal, and the electronic foldback method is used to make sure that the system is successful. The development of this technique and future metal research is very important.