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Development of high temperature a scanning Hall probe microscope incorporating a Hall probe fabricated using gallium nitride heterostructures

Development of high temperature a scanning Hall probe microscope incorporating a Hall probe fabricated using gallium nitride heterostructures
开发包含使用氮化镓异质结构制造的霍尔探针的高温扫描霍尔探针显微镜
批准号：
19360139
负责人：
SANDHU Adarsh
金额：
$11.65万
依托单位：
Tokyo Institute of Technology
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份：
2007
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2007 至 2008
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-19360139/
关键词：
磁性走査プローブ顕微鏡磁区スピンエレクトロニクス磁気記録走査型ホールプローブ顕微鏡強磁性体AlGaNGaN2次元電子ガスヘテロ接合磁気記録媒体

项目摘要

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高温における強磁性体の磁区構造の観察を目的とし、高温走査型ホールプローブ顕微鏡(High Temperature Scanning Hall Probe Microscopy, HT-SHPM)用プローブを作製した。高温観測のためのプローブにAl 組成比、Siドープの有無など構造の異なるAlGaN/GaNの温度特性を調べ、感磁部の大きさが2μm×2μmであるホールプローブを作製した。作製したプローブの電気特性を評価し、ホール係数は25℃で0.0077Ω/G、400℃においては0.0046Ω/Gという結果を得た。また、HT-SHPMを用いて100℃以上における強磁性体ガーネット薄膜の磁区観察、外部磁界印加時の磁区観察に成功した。
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会议论文
Contact mode scanning Hall probe microscopy
接触式扫描霍尔探针显微镜
DOI： --
发表时间： 2008
期刊： IEEE Transactions on Magnetics 44
影响因子： --
作者： [T.Ohashi, H. Osawa, A. Sandhu]
通讯作者： A. Sandhu
Fabrication of Bismuth Thin Films Nano-Hall Sensors for Room Temperature Scanning Micro-Hall Probe Microscope Imaging of Ferromagnetic Microstructures
  • 批准号：
    15560271
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
  • 资助金额：
    $2.37万
  • 财政年份：
    2003
  • 负责人：
    SANDHU Adarsh
  • 依托单位：
    TOKYO INSTITUTE OF TECHNOLOGY
Room Temperature Scanning Micro-Hall Probe Microscope Imaging of Ferromagnetic Microstructures Under Large Pulsed Magnetic Fields Generated by an Integrated Mini-Coil
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