Development of Multi-functional Near Field Raman Microscope for Measurement of Strain in Nano-scale Area and Application to Bio-Piezoelectric material
Development of Multi-functional Near Field Raman Microscope for Measurement of Strain in Nano-scale Area and Application to Bio-Piezoelectric material
批准号:
19760078
负责人:
KIMACHI Hirohisa
金额:
$2.27万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
财政年份:
2007
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2007 至 2008
中文摘要
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英文摘要
本研究では、多機能近接場ラマン分光ひずみ評価装置の開発を行った。特に、微小開口プローブと金属チッププローブで近接場の発生条件を検討し、近接場光の発生、表面形状、表面電位と成分分析の同時測定が可能なSNOMヘッドとシステムを確立した。現状、スペクトル強度が弱いためひずみ評価は困難であるが、シリコンでのチップ増強等、レーザー波長を変える事で十分な強度が得られる可能性があり、今後更なる発展が期待できる。
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会议论文
顕微ラマン分光法を用いた多結晶アルミナの局所ひずみのマッピング測定
使用显微拉曼光谱映射测量多晶氧化铝的局部应变
DOI:
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发表时间:
2007
期刊:
影响因子:
--
作者:
[山本真司・來海博央・白木原香織・藤田雄一]
通讯作者:
山本真司・來海博央・白木原香織・藤田雄一
Development of Stress-Mapping Technique with Sub-Microscale Spatial Resolution by Angular dispersive Micro-Raman spectroscopy
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批准号:24760088
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项目类别:Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
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资助金额:$2.91万
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财政年份:2012
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负责人:KIMACHI Hirohisa
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依托单位:
Development of Three Dimensional Strain Field Scanning Technique with Nano-Scale Special Resolution by EBSD Method and Application to Strain Silicon Semiconductor
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批准号:21760086
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项目类别:Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
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资助金额:$2.58万
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财政年份:2009
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负责人:KIMACHI Hirohisa
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依托单位:
海外基金