Micrometer function imaging technique for Fermiology of strongly correlated electron systems
Micrometer function imaging technique for Fermiology of strongly correlated electron systems
批准号:
20740205
负责人:
TAKAHIRO Ito
金额:
$2.5万
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
财政年份:
2008
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2008 至 2009
中文摘要
我们在微聚焦真空-紫外角分辨光电子能谱光束线BL7U(@UVSOR-II)上发展了一种新的光谱研究技术--微米函数成像,用于强关联电子系统的“微米功能成像”。当我们将这项技术应用于准一维有机导体(TMTSF)2PF6,其中辐射损伤和表面域干扰了本征的“费米学”研究时,我们成功地观察到了由准粒子色散形成的Luttinger表面,这表明了强烈的电子-声子相互作用。
英文摘要
We have developed a new spectroscopic research technique "micrometer function imaging" for "Fermiology" of strongly correlated electron systems, at the micro-focus vacuum-ultraviolet synchrotron angle-resolved photoemission spectroscopy beamline BL7U(@UVSOR-II). When we applied the technique to the quasi-one-dimensional organic conductor (TMTSF)2PF6, where the radiation damage and the surface domains disturb the intrinsic "Fermiology" research, we have successfully observed the Luttinger surface formed by the quasi-particle dispersion, which is suggestive of the strong electron-phonon interactions.
期刊论文(0)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
登录
查看更多内容
Improvement of the SGM-TRAIN monochromator at UVSOR-II BL5U for low excitation-energy photoemission [Poster]
改进 UVSOR-II BL5U 的 SGM-TRAIN 单色仪以实现低激发能光电发射 [海报]
DOI:
--
发表时间:
2009
期刊:
影响因子:
--
作者:
[宮崎健一, 大畠悟郎, 金大貴, 中山正昭, T.Ito]
通讯作者:
T.Ito
第22回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウムプログラム委員(2009年1月9日~12日 於東京大学本郷キャンパス)
日本同步辐射科学学会第22届年会暨同步辐射科学联合研讨会程序委员会委员(2009年1月9-12日,东京大学本乡校区)
DOI:
--
发表时间:
期刊:
影响因子:
--
作者:
[]
通讯作者:
DOI:
10.1063/1.3416911
发表时间:
2010-06-07
期刊:
APPLIED PHYSICS LETTERS
影响因子:
4
作者:
[Miyazaki, H., Im, H. J., Kimura, S.]
通讯作者:
Kimura, S.
Fermi Surface Variation of Ce 4f-Electrons in Hybridization Controlled Heavy-Fermion Systems
杂化控制重费米子系统中 Ce 4f 电子的费米表面变化
DOI:
10.1016/j.ssc.2015.03.005
发表时间:
2015
期刊:
Solid State Communications
影响因子:
2.1
作者:
[H.J. Im, T. Ito, H. Miyazaki, S. Kimura, Y.S. Kwon, Y. Saitoh, S.-I. Fujimori, A. Yasui, H. Yamagami]
通讯作者:
H. Yamagami
Change of lattice constant due to hybridization effect of a ferromagnetic semicon ductor EuO
铁磁半导体 Eu2O3 杂化效应引起的晶格常数变化
DOI:
--
发表时间:
2010
期刊:
Journal of Physics : Conference Series 200
影响因子:
--
作者:
[H.Miyazaki, et al.]
通讯作者:
et al.
共 38 条
海外基金