Investigation of non-linear enhancement effects of swift cluster ion impacts on secondary ion yields

快速团簇离子冲击对二次离子产率的非线性增强效应研究

• 批准号: 21604016
• 负责人: HIRATA Kouichi
• 金额: $ 2.58万
• 依托单位: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• 财政年份: 2009
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2009 至 2012
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-21604016/
• 关键词: クラスターイオン; 二次イオン; 量子ビーム; ２次イオン; クラスターイオンビーム; 2次イオン

In this project, we have investigated emission yields of secondary ions induced by swift cluster and monoatomic ion impacts on organic thin film targets. The secondary ion yields obtained by time-of-flight mass analysis and direct secondary io

在本计画中，我们研究了快速团簇与单原子离子撞击有机薄膜靶所产生的二次离子发射产额。用飞行时间质量分析法和直接二次离子注入法测得了二次离子产额

项目成果

高速クラスター照射誘起2次イオン質量分析よる有機薄膜材料表面のキャラクタリゼーション

高速簇辐照诱导二次离子质谱法表征有机薄膜材料表面

• 发表时间: 2013
• 作者: 平田浩一;斉藤勇一;鳴海一雅;千葉敦也;山田圭介
• 通讯作者: 山田圭介

C60イオン照射によるPTFEからの2次イオン放出

C60 离子辐照从 PTFE 释放二次离子

• 发表时间: 2011
• 作者: 平田浩一;斉藤勇一;千葉敦也;山田圭介;鳴海一雅;神谷富裕
• 通讯作者: 神谷富裕

クラスター1次イオンを用いた PMMA 薄膜の負2次イオン質量分析における帯電効果の抑制

使用团簇一次离子对 PMMA 薄膜负二次离子质谱分析中的充电效应的抑制

• 发表时间: 2012
• 作者: 平田浩一;斉藤勇一;鳴海一雅;千葉敦也;山田圭介;神谷富裕
• 通讯作者: 神谷富裕

有機高分子薄膜への C60 イオン照射と単原子イオン照射による負2次イオン放出の比較

C60离子辐照与单原子离子辐照对有机聚合物薄膜负二次离子释放的比较

• 发表时间: 2012
• 作者: 平田浩一;斉藤勇一;鳴海一雅;千葉敦也;山田圭介
• 通讯作者: 山田圭介

有機高分子薄膜へのクラスターイオン照射と単原子イオン照射による2次イオン放出の比較

有机聚合物薄膜上簇离子辐照与单原子离子辐照二次离子释放的比较

• 发表时间: 2011
• 作者: 平田浩一;斉藤勇一;鳴海一雅;千葉敦也;山田圭介
• 通讯作者: 山田圭介