Two dimensional vacancy map measurement by a positron microprobe

正电子微探针二维空位图测量

• 批准号: 21350039
• 负责人: FUJINAMI Masanori
• 金额: $ 12.48万
• 依托单位: Chiba University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
• 财政年份: 2009
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2009 至 2011
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-21350039/
• 关键词: 陽電子; マイクロビーム; 原子空孔; 二次元分布; 塑性変形; 転位; 金属; 腸電子

Positron probe microanalyzer (PPMA) for two-dimensional defect map has been developed. We have succeeded in extracting the magnetically-guided positron beam from the magnetic field and enhancement of brightness of the positron beam in transmission geometry. The present beam size was estimated to be 14.5 μm. This method has been applied to the study of the deformation-induced defect in pure iron. It has been proven that the vacancy clusters are formed at the fractured points and they can be anticipated using this technique.

研制了一种用于二维缺陷图谱的正电子探针显微分析仪。我们成功地从磁场中提取了磁导正电子束，并从传输几何上提高了正电子束的亮度。目前的束流尺寸估计为14.5μm。该方法已应用于纯铁形变诱导缺陷的研究。事实证明，空位团簇是在断裂点形成的，利用这种技术可以预测空位团簇的形成。

项目成果

透過型陽電子顕微鏡の開発

透射正电子显微镜的研制

• 发表时间: 2009
• 期刊: PF News
• 作者: 神野智史;岡壽崇;大塚岳志;井上雅夫;松谷幸;栗原俊一;藤浪眞紀
• 通讯作者: 藤浪眞紀

Development of positron probe microanalyzer for a two-dimensional defect mappmg

二维缺陷图谱正电子探针显微分析仪的研制

• 发表时间: 2010
• 作者: S.Tokonami;H.Shiigi;T.Nagaoka;藤浪眞紀
• 通讯作者: 藤浪眞紀

陽電子プローブマイクロアナライザーの光学系改造

正电子探针显微分析仪光学系统改造

• 发表时间: 2010
• 作者: 柳響介;河島祐二;神野智史;藤浪眞紀
• 通讯作者: 藤浪眞紀

陽電子プローブマイクロアナライザーによる塑性変形した純鉄の空孔型欠陥マップ

使用正电子探针显微分析仪绘制塑性变形纯铁的空位型缺陷图

• 发表时间: 2011
• 期刊: 鉄と鋼
• 作者: 藤浪眞紀;河島祐二;柳響介;神野智史;打越雅仁;一色実;鈴木茂
• 通讯作者: 鈴木茂

陽電子消滅法による純鉄中の水素誘起された原子空孔分析

正电子湮灭法分析纯铁中氢致原子空位

• 发表时间: 2011
• 作者: 久保祐介;野尻繁広;藤浪眞紀;土信田知樹;高井健一
• 通讯作者: 高井健一