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Development of methods for testing and diagnosing faults on clock lines in system LSIs

Development of methods for testing and diagnosing faults on clock lines in system LSIs
开发系统LSI时钟线故障的测试和诊断方法
批准号:
22500048
负责人:
HIGAMI Yoshinobu
金额:
$2.08万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份:
2010
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2010 至 2012

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项目成果

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:I n this research, we have developed a testing and a diagnosis method for system LSIs. Targets are delay faults and bridging faults on clock lines. The method locates a fault site in a circuit under diagnosis, and it applies a simulation-based approach. The effectiveness of the method are confirmed by the computer simulation for benchmark circuits.
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会议论文
Diagnosis for Bridging Faults on Clock Lines
时钟线桥接故障诊断
DOI: 10.1109/prdc.2012.15
发表时间: 2012
期刊: Proc. Pacific Rim Int. Symposium on Dependable Computing
影响因子: --
作者: [Y. Higami, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. Saluja]
通讯作者: S. Kobayashi and K. Saluja
Fault Simulation and Test Generation for Clock Delay Faults
时钟延迟故障的故障仿真和测试生成
DOI: 10.1109/aspdac.2011.5722299
发表时间: 2011
期刊: Proc. Asia and South Pacific Design Automation Conference
影响因子: --
作者: [Y. Higami, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. Saluja]
通讯作者: S. Kobayashi and K. Saluja
Generation of Diagnostic Tests for Transition Faults Using a Stuck-at ATPG Tool
使用卡住 ATPG 工具生成转换故障诊断测试
DOI: --
发表时间: 2012
期刊: IEICE Trans. on Inf. & Systems
影响因子: --
作者: [Y. Higami, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. Saluja]
通讯作者: S. Kobayashi and K. Saluja
クロック信号線の遅延故障に対するテスト生成について
关于时钟信号线延迟故障的测试生成
DOI: --
发表时间: 2010
期刊:
影响因子: --
作者: [樋上喜信, 高橋寛, 小林真也, Kewal K.Saluja]
通讯作者: Kewal K.Saluja
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    Research on High Dependable Test for Crosstalk Faults in High Speed VLSIs
    • 批准号:
      19500045
    • 项目类别:
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • 资助金额:
      $2.16万
    • 财政年份:
      2007
    • 负责人:
      HIGAMI Yoshinobu
    • 依托单位: