Research on High Dependable Test for Crosstalk Faults in High Speed VLSIs

高速VLSI串扰故障高可靠测试研究

• 批准号: 19500045
• 负责人: HIGAMI Yoshinobu
• 金额: $ 2.16万
• 依托单位: Ehime University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• 财政年份: 2007
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2007 至 2009
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-19500045/
• 关键词: VLSI(大規模集積回路); テスト; 故障診断; クロストーク故障; テストパターン生成; トランジスタショート; ゲートレベルツール; 故障シミュレーション; 高信頼化; 論理回路; VLSIのテスト; シミュレーション; 故障モデル

In this research, a testing method for crosstalk faults in VLSI (Very Large Scaled Integrated Circuit) circuits has been proposed. A crosstalk fault is induced by coupling interaction between neighbor two lines, and it is hard to detect by the testing method for conventional fault models. We analyzed the fault behavior of crosstalk faults to define a fault model, and proposed a test generation method. Moreover we enhanced the method for transistor shorts to improve fault diagnosis and test pattern generation.

在这项研究中，提出了一种VLSI（超大规模集成电路）电路串扰故障的测试方法。串扰故障是由相邻两条线路之间的耦合相互作用引起的，传统故障模型的测试方法很难检测出来。我们分析了串扰故障的故障行为，定义了故障模型，并提出了测试生成方法。此外，我们还增强了晶体管短路的方法，以改进故障诊断和测试模式生成。

项目成果

An Algorithm for Diagnosing Transistor Shorts Using Gate-level Simulation

使用门级仿真诊断晶体管短路的算法

• 发表时间: 2009
• 期刊: IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology 2
• 作者: Y.Higami;K.K.Saluja;H.Takahashi;S.Kobayashi;Y.Takamatsu
• 通讯作者: Y.Takamatsu

Addressing Defect Coverage through Generating Test Vectors for Transistor Defects

通过生成晶体管缺陷测试向量来解决缺陷覆盖率

• 发表时间: 2009
• 期刊: IEICE Trans.Fundamentals E92-A
• 作者: Y.Higami;K.K.Saluja;H.Takahashi;S.Kobayashi;Y.Takamatsu
• 通讯作者: Y.Takamatsu