高密度金属ナノドット磁性体の形成メカニズムの解明および新型メモリデバイスへの応用
高密度金属ナノドット磁性体の形成メカニズムの解明および新型メモリデバイスへの応用
批准号:
22760241
负责人:
裴 艶麗
金额:
$2.66万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
财政年份:
2010
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2010 至 2011
中文摘要
点击翻译按钮获取中文摘要
英文摘要
本研究では、超高速・超省電力の金属ナノドット磁性体不揮発性メモリを提案し、研究を行う。このメモリは、磁場によってスピン方向を可変できる自由磁性体磁気ドットと固定磁性体層からなるMTJ(Magnetic Tunel Junction)が増幅素子として働くSOI・MOSトランジスタと融合した構造をしており、現在のフラッシュメモリの微細化限界を超えたナノメータ領域まで高速で安定に動作する不揮発性メモリの開発をしている。平成22年度は、自由金属ナノドット磁性体-コバルトナノドット(Co-ND)の形成を重点として展開していた。Co-NDは、我々開発したSAND(Self-Assembled Nanodots Depostion)を利用して形成した。この方法では、磁性金属チップと絶縁膜の複合ターゲットを同時スパッタする方法により、製膜方法である。今年度では、シリコン酸化膜とシリコン窒化膜に埋め込んだコバルトナノドットを高密度的に形成し、物性分析をした。シリコン酸化膜に埋め込んだコバルトナノドットは周りの絶縁膜により、酸化され、弱い磁気特性が表れた。これに対して、シリコン窒化膜に埋め込んだコバルトナノドットを形成し、XPSの分析結果により、コバルトの酸化成分を抑えることが分かった。しかし、シリコン酸化膜に埋め込んだコバルトナノドットの磁気特性に比べて、大きな変化が見えられなかった。コバルトとシリコンを合金化して、コバルトシリサイドの形成ができてしまう可能性が考えられた。もっと強い磁気特性を得られるため、FePtなどほかの磁性ナノドットを探索して、研究を進めている。
期刊论文(0)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
登录
查看更多内容
Band Energy Engineered Metal Nanodots Nonvolatile Memory to Achieve Long Retention Characteristics
带能工程金属纳米点非易失性存储器可实现长期保留特性
DOI:
--
发表时间:
2010
期刊:
影响因子:
--
作者:
[Tatsuro Hiraki, Yanli Pei, Toshiya Kojima, Ji-Choel Bea, Hisashi Kino, Mitsumasa Koyanagi, Tetsu Tanaka]
通讯作者:
Tetsu Tanaka
MOSFET Nonvolatile Memory with High-Density Cobalt Nanodots Floating Gate and HfO2 High-k Blocking Dielectric
具有高密度钴纳米点浮栅和 HfO2 高 k 阻挡电介质的 MOSFET 非易失性存储器
DOI:
--
发表时间:
2010
期刊:
IEEE Transactions on Nanotechnology (in press)
影响因子:
--
作者:
[Y. Pei, C. Yin, T. Kojima, J. Bea, H. Kino, T. Fukushima, T. Tanaka, M. Koyanagi]
通讯作者:
M. Koyanagi
縦型メタルナノドット不揮発性メモリに関する研究
垂直金属纳米点非易失性存储器的研究
DOI:
--
发表时间:
2010
期刊:
影响因子:
--
作者:
[開達郎, 栗山祐介, 小島俊哉, Mariappan Murugesan, 裴艶麗, 木野久志, 裴志哲, 福島誉史, 小柳光正, 田中徹]
通讯作者:
田中徹
Band Energy Engineering of Metal Nanodots for High Performance Nonvolatile Memory Application
用于高性能非易失性存储器应用的金属纳米点的带能工程
DOI:
--
发表时间:
2010
期刊:
影响因子:
--
作者:
[Y.Pei, T.Hiraki, T.Kojima, T.Fukushima, M.Koyanagi, T.Tanaka]
通讯作者:
T.Tanaka
Investigation of Effects of Post-Deposition Annealing on Cobalt Nanodots Embedded in Silica for Nonvolatile Memory Application
沉积后退火对嵌入二氧化硅中用于非易失性存储器应用的钴纳米点的影响的研究
DOI:
--
发表时间:
2010
期刊:
Japanese Journal of Applied Physics (in print)
影响因子:
--
作者:
[Y. Pei, T. Kojima, T. Hiraki, T. Fukushima, T. Tanaka, M. Koyanagi]
通讯作者:
M. Koyanagi
海外基金