走査型ナノピペットプローブ顕微鏡を用いたアトリットル堆積量制御法の開発
走査型ナノピペットプローブ顕微鏡を用いたアトリットル堆積量制御法の開発
批准号:
11J10578
负责人:
伊東 聡
金额:
$0.45万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for JSPS Fellows
财政年份:
2011
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2011 至 --
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英文摘要
本研究では、ナノピペット(先端に100nm程度の開口を有する毛細管)を用いて液中環境下における基板表面上への物質のナノスケール堆積加工法の開発に取り組んだ。液中環境下における微小量物質の堆積や滴下は、工業的分野のみならず、生物学的分野においても重要な技術であり、その発展が望まれている。従来、液中環境における基板表面上への物質の堆積加工は、液中での物質の拡散により、堆積加工の範囲はマイクロメートルスケール以下に微細化することが困難であった。そこで本研究では、ナノピペットをプローブとして用いる液中環境下で動作可能な走査型プローブ顕微鏡(Scanning Probe Microscope: SPM)を開発し、開発したナノピペットプローブSPMを用いて液中環境下での堆積加工を試みた。本研究のSPMは周波数変調原子間力顕微鏡(Frequency modulation Atomic Force Microscope: FM-AFM)の機構を採用し、ナノピペットプローブの振動検出には音叉型水晶振動子(Tuning Fork Quartz Crystal Resonator: TF-QCR)を応用したセンサを開発した。TF-QCRを用いることにより、小型でシンプルな構成でありながら、液中環境下においても高感度でプローブと試料表面との接触を検出することを可能とした。FM-AFMの機構を用いて、プローブ先端と基板表面間距離を制御し物質を堆積することによって、液中環境下においても物質を拡散無くナノスケールで堆積することを可能にした。さらに液中環境下において物質の堆積加工を行うことによって加工が安定して行われ、堆積量の安定化を実現した。これらの研究成果は論文投稿され、2編が学術論文として掲載および掲載決定されている。また、これらの研究成果は国際会議において1件、国内会議において2件、学会発表が行われた。
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Development of Local Deposition Technique using A Nanopipette in Liquid Condition
液体条件下使用纳米移液器的局部沉积技术的开发
DOI:
--
发表时间:
2011
期刊:
影响因子:
--
作者:
[So Ito, Koji Yamazaki, Futoshi Iwata]
通讯作者:
Futoshi Iwata
Measurement and Deposition of Nanometer-scale Cu dot Using an Atomic Force Microscope with a Nanopipette Probe in Liquid Condition
在液体条件下使用带有纳米移液管探针的原子力显微镜测量和沉积纳米级铜点
DOI:
--
发表时间:
2011
期刊:
影响因子:
--
作者:
[So Ito, Koji Yamazaki, Futoshi Iwata]
通讯作者:
Futoshi Iwata
液中で動作可能なナノピペットプローブを有するFM-AFMの開発と微細加工法への応用
具有可在液体中操作的纳米移液管探针的 FM-AFM 的开发及其在微加工方法中的应用
DOI:
--
发表时间:
2011
期刊:
影响因子:
--
作者:
[伊東聡, 山崎晃資, 宇井洋之, 岩田太]
通讯作者:
岩田太
Nanometer-scale Deposition of Metal Plating Using a Nanopipette Probe in Liquid Condition
在液体条件下使用纳米移液管探针进行纳米级金属镀层沉积
DOI:
--
发表时间:
2011
期刊:
Jpn.J.Appl.Phys. 掲載決定
影响因子:
--
作者:
[伊東聡, 岩田太]
通讯作者:
岩田太
Probe type micro magnetic manipulator utilising localised magnetic field with closed-loop magnetic path
利用闭环磁路局部磁场的探针式微型磁力机械手
DOI:
10.1504/ijnm.2012.044663
发表时间:
2012
期刊:
International Journal of Nanomanufacturing
影响因子:
--
作者:
[So Ito, Kenji Ito, Futoshi Iwata]
通讯作者:
Futoshi Iwata
共 6 条
近赤外光源を用いた斜入射干渉計によるきさげ表面微細形状の大面積精密三次元計測
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批准号:23K03606
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项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
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资助金额:$3.0万
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财政年份:2023
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负责人:伊東 聡
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依托单位: