Construction of III-V CMOS Photonics
III-V CMOS 光子学的构建
基本信息
- 批准号:22686034
- 负责人:
- 金额:$ 16.47万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Young Scientists (A)
- 财政年份:2010
- 资助国家:日本
- 起止时间:2010-04-01 至 2014-03-31
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
We have successfully established the fabrication procedure of III-V-on-Insulator (III-V-OI) wafers by using the direct wafer bonding technology. As a result, we have demonstrated high-performance optical switches/modulators and waveguide photodetectors on the III-V-OI wafer in addiction to InP-based photonic-wire passive devices. We have also established the fabrication procedure of InGaAs MOS transistors on the III-V-OI wafer.Thus, we have successfully demonstrated the basic concept of the III-V CMOS photonics platform on which ultra-small III-V-based photonic-wire devices and high-performance III-V-based CMOS transistors can be co-integrated by using the III-V-OI wafer.
我们利用直接键合技术成功地建立了绝缘体上III-V-OI(III-V-OI)晶片的制造工艺。因此,除了基于InP的光子线无源器件外,我们还在III-V-OI晶片上展示了高性能的光开关/调制器和光波导光探测器。我们还建立了在III-V-OI晶片上制作InGaAsMOS晶体管的工艺,从而成功地展示了利用III-V-OI晶片共集成基于III-V的超小型光子线器件和基于高性能的III-V基晶体管的III-V CMOS光子学平台的基本概念。
项目成果
期刊论文数量(0)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
III-V/Ge device engineering for CMOS photonics
CMOS 光子学的 III-V/Ge 器件工程
- DOI:
- 发表时间:2013
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:齊藤 伸;鈴木 理明;杜 関祥;高橋 研;M. Takenaka and S. Takagi
- 通讯作者:M. Takenaka and S. Takagi
InPとAl2O3パッシベーションによるInGaAsP細線導波路の損失改善
InP 和 Al2O3 钝化改善 InGaAsP 线波导的损耗
- DOI:
- 发表时间:2012
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:一宮佑希;横山正史;市川磨;秦雅彦;竹中充;高木信一
- 通讯作者:高木信一
ALD Al2O3 activated direct wafer bonding for III-V CMOS photonics platform
ALD Al2O3 激活 III-V CMOS 光子平台的直接晶圆键合
- DOI:
- 发表时间:2011
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Y. Ikku;M. Yokoyama;R. Iida;M. Sugiyama;Y. Nakano;M. Takenaka;S. Takagi
- 通讯作者:S. Takagi
III-V CMOSフォトニクスを用いた低電流駆動光スイッチ
使用 III-V CMOS 光子学的低电流驱动光开关
- DOI:
- 发表时间:2013
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Kawai Yuki;Tadashi Tsubone;Tsuyoshi Sekitani;一宮佑希,横山正史,市川磨,秦雅彦,竹中充,高木信一
- 通讯作者:一宮佑希,横山正史,市川磨,秦雅彦,竹中充,高木信一
High performance sub-20-nm-channel-length extremely-thin body InAs-on-insulator Tri-gate MOSFETs with high short channel effect immunity and V_<th> tunability
高性能亚 20 nm 沟道长度极薄体 InAs 绝缘体三栅极 MOSFET,具有高短沟道效应抗扰度和 V_<th> 可调谐性
- DOI:
- 发表时间:2013
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:S. H. Kim;M. Yokoyama;R. Nakane;O. Ichikawa;T. Osada;M. Hata;M. Takenaka and S. Takagi
- 通讯作者:M. Takenaka and S. Takagi
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III-V-OI MOS structure by using selective wet oxidation of InAlAs layer
采用InAlAs层选择性湿法氧化的III-V-OI MOS结构
- 批准号:
19860024 - 财政年份:2007
- 资助金额:
$ 16.47万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Young Scientists (Start-up)














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