Development of methods to identify atoms bonded to a specific surface atom and to analyze the adsorption state using inter-atomic Auger processes

开发识别与特定表面原子键合的原子并使用原子间俄歇过程分析吸附状态的方法

基本信息

  • 批准号:
    23656036
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 2.66万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
  • 财政年份:
    2011
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2011 至 2012
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

We have developed an electron-electron-ion coincidence spectrometer with a high detection efficiency to identify atoms bonded to a specific surface atom and to analyze the adsorption state using interatomic Auger processes. Although the coincidence counting rate was improved in comparison with that of a previous analyzer, we could not detect interatomic Auger electrons. Using the coincidence analyzer we have studied decay processes of a Si-2s core hole on a Si(111) surface.
我们已经开发了一个电子-电子-离子符合光谱仪具有高的检测效率,以确定原子键合到一个特定的表面原子,并分析吸附状态使用原子间俄歇过程。虽然符合计数率与以前的分析仪相比有所提高,但我们无法检测到原子间的俄歇电子。用符合分析仪研究了Si(111)面上Si-2s芯空穴的衰变过程。

项目成果

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专利数量(0)
高感度電子-電子-イオンコインシデンス分光装置の性能評価と Si-LVVオージェ電子-Si 2s 光電子コインシデンス分光測定
高灵敏度电子-电子符合谱仪和Si-LVV俄歇电子-Si 2s光电子符合谱仪性能评价
  • DOI:
  • 发表时间:
    2012
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    平賀健太;新江定憲;兼村瑠威;小柏洋輔;梁瀬虹太朗;金山典嗣;大野真也;垣内拓大;間瀬一彦;奥平幸司;奥沢誠;田中正俊
  • 通讯作者:
    田中正俊
、Si-LVV オージェ電子-Si 2s光電子コインシデンス分光による Si 2s内殻正孔緩和過程の研究
, Si-LVV俄歇电子-Si 2s光电子符合光谱研究Si 2s核空穴弛豫过程
  • DOI:
  • 发表时间:
    2013
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    平賀健太;新江定憲;兼村瑠威;小柏洋輔;梁瀬虹太朗;高野優作;金山典嗣;大野真也;垣内拓大;所畑成明;関場大一郎;奥平幸司;奥沢誠;間瀬一彦;田中正俊
  • 通讯作者:
    田中正俊
高感度電子-電子-イオンコインシデンス分光装置の性能評価と Si-LVV オージェ電子-Si 2s 光電子コインシデンス分光測定
高灵敏度电子-电子符合谱仪和Si-LVV俄歇电子-Si 2s光电子符合谱仪性能评价
  • DOI:
  • 发表时间:
    2013
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    平賀健太;新江定憲;兼村瑠威;小柏洋輔;梁瀬虹太朗;金山典嗣;大野真也;垣内拓大;間瀬一彦;奥平幸司;奥沢誠;田中正俊
  • 通讯作者:
    田中正俊
Si-LVVオージェ電子-Si 2s光電子コインシデンス分光によるSi 2s内殻正孔緩和過程の研究
Si-LVV俄歇电子-Si 2s光电子符合能谱研究Si 2s核空穴弛豫过程
  • DOI:
  • 发表时间:
    2013
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    平賀健太;新江定憲;兼村瑠威;小柏洋輔;梁瀬虹太朗;高野優作;金山典嗣;大野真也;垣内拓大;所畑成明;関場大一郎;奥平幸司;奥沢誠;間瀬一彦;田中正俊
  • 通讯作者:
    田中正俊
高感度電子-電子-イオンコインシデンス分光装置の性能評価とSi-LVVオージェ電子-Si 2s光電子コインシデンス分光測定
高灵敏度电子-电子符合谱仪和Si-LVV俄歇电子-Si 2s光电子符合谱仪性能评价
  • DOI:
  • 发表时间:
    2013
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    平賀健太;新江定憲;兼村瑠威;小柏洋輔;梁瀬虹太朗;金山典嗣;大野真也;垣内拓大;間瀬一彦;奥平幸司;奥沢誠;田中正俊
  • 通讯作者:
    田中正俊
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  • 财政年份:
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  • 资助金额:
    $ 2.66万
  • 项目类别:
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