Characterization of Polishing elementary steps with Atomic-Force-Microscope nano machining
Characterization of Polishing elementary steps with Atomic-Force-Microscope nano machining
用原子力显微镜纳米加工表征抛光基本步骤
批准号：
24560143
负责人：
MATSUI Shinsuke
金额：
$3.49万
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份：
2012
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2012-04-01 至 2015-03-31
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Subsurface Damaged Layer Reduction with Atomic Force Microscope Scratch Nano Machinig on Optical fiber End Plane
光纤端面原子力显微镜划痕纳米加工减少次表面损伤层
光纤端面原子力显微镜划痕纳米加工减少次表面损伤层
DOI：
--
发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
--
作者：
[S. Matsui, S. Umemura, T. Sato]
通讯作者：
T. Sato
AFMによる光ファイバ端面のナノ・マイクロ加工
使用 AFM 对光纤端面进行纳米/微米加工
使用 AFM 对光纤端面进行纳米/微米加工
DOI：
--
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
作者：
[志関真生, 松井伸介]
通讯作者：
松井伸介
Micro taper machining of optical fiber ends for on-site assembled connector (2<sup>nd</sup> report)
现场组装连接器光纤端部的微锥度加工（第二份报告）
现场组装连接器光纤端部的微锥度加工（第二份报告）
DOI：
10.11420/jsat.57.459
发表时间：
2013
期刊：
Journal of the Japan Society for Abrasive Technology
影响因子：
--
作者：
[Hirofumi Suzuki, Mutsumi Okada, Katsuji Fujii, Shinsuke Matsui, Yutaka Yamagata, 松井伸介 阿部宜輝]
通讯作者：
松井伸介 阿部宜輝
Characterization of Nano-micro machining made by Atomic Force Microscope Scratch on Optical-fiber End Plane
光纤端面原子力显微镜划痕纳微加工表征
光纤端面原子力显微镜划痕纳微加工表征
DOI：
--
发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Shinsuke Matsui, Shigeru Umemura]
通讯作者：
Shigeru Umemura
AFMスクラッチ加工の加工特性の評価
AFM划痕加工的加工特性评价
AFM划痕加工的加工特性评价
DOI：
--
发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Hirofumi Suzuki, Mutsumi Okada, Katsuji Fujii, Shinsuke Matsui, Yutaka Yamagata, 松井伸介 阿部宜輝, 若井俊 上方翔平 松井伸介 梅村茂, 佐藤天哉 松井伸介 梅村茂]
通讯作者：
佐藤天哉 松井伸介 梅村茂
共 11 条
Study on characterization of polishing and nano-micro processing with AFM( Atomic Micro Scope)
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批准号：15K05731
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项目类别：Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
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资助金额：$3.16万
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财政年份：2015
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负责人：MATSUI Shinsuke
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依托单位：
海外基金