Analyse und Simulation der Nicht-Kontakt-Rasterkraftmikroskopie im UHV mittels ab initio Molekulardynamik

Vorhaben是NICHT-KONTAKT-Rasterkraftmikroskopie的机械工程师。我们从头到尾都在开发新的、大规模的并行程序。在Einem Vorläuferprojekt gewonnenen Methoden的Aufbauend auf den in einem Vorläuferprojekt gewonnenen Methoden是Kräfte zwitchen einer AFMSpitze and der Probenoberfläche auf OM or skala untersuht。Zunächst是哈尔布利特-Oberfläche Inas(110)fortgesetzt，da für dieses es Probensystem viele实验数据和Rasterkraft-Sowie der RasterTunelmikroskopie vorliegen的技术利益攸关方。我不能理解你的感受，也不能接受你的要求。这是一件非常重要的事情，因为这是一件非常重要的事情。我是维特伦·维劳夫·德·普罗伊茨，他将在一种被吸附的组织中找到自己的金属。

Das Vorhaben befasst sich mit der Untersuchung der grundliegenden Abbildungsmechanismen der Nicht-Kontakt-Rasterkraftmikroskopie. Diese werden mit der ab initio Molekulardynamik durch den Einsatz des leistungsstarken, massiv parallelen Programms EstCoMPP untersucht. Aufbauend auf den in einem Vorläuferprojekt gewonnenen Methoden werden die Kräfte zwischen einer AFMSpitze und der Probenoberfläche auf atomarer Skala untersucht. Zunächst werden die Arbeiten auf der technisch interessanten Halbleiter-Oberfläche InAs(110) fortgesetzt, da für dieses Probensystem viele experimentelle Daten aus der Rasterkraft- sowie der Rastertunnelmikroskopie vorliegen. Dabei stehen vor allem die Untersuchung der chemischen Sensitivität und die Abbildung von Defekten im Vordergrund. Ausserdem wird der in der letzten Zeit diskutierte Einfluss der freien Bindungen der Spitze simuliert werden. Im weiteren Verlauf des Projektes wird die Abbildung von adsorbierten organischen Molekülen auf metallischen Oberflächen untersucht.