Analyse und Simulation der Nicht-Kontakt-Rasterkraftmikroskopie im UHV mittels ab initio Molekulardynamik

使用从头算分子动力学分析和模拟特高压非接触原子力显微镜

• 批准号: 5428338
• 负责人: Professor Dr. Hendrik Hölscher
• 金额: --
• 依托单位: Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Research Grants
• 财政年份: 2004
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 2003-12-31 至 2006-12-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/5428338?language=en
• 关键词: Analyse; und; Simulation; der; Nicht

Das Vorhaben befasst sich mit der Untersuchung der grundliegenden Abbildungsmechanismen der Nicht-Kontakt-Rasterkraftmikroskopie. Diese werden mit der ab initio Molekulardynamik durch den Einsatz des leistungsstarken, massiv parallelen Programms EstCoMPP untersucht. Aufbauend auf den in einem Vorläuferprojekt gewonnenen Methoden werden die Kräfte zwischen einer AFMSpitze und der Probenoberfläche auf atomarer Skala untersucht. Zunächst werden die Arbeiten auf der technisch interessanten Halbleiter-Oberfläche InAs(110) fortgesetzt, da für dieses Probensystem viele experimentelle Daten aus der Rasterkraft- sowie der Rastertunnelmikroskopie vorliegen. Dabei stehen vor allem die Untersuchung der chemischen Sensitivität und die Abbildung von Defekten im Vordergrund. Ausserdem wird der in der letzten Zeit diskutierte Einfluss der freien Bindungen der Spitze simuliert werden. Im weiteren Verlauf des Projektes wird die Abbildung von adsorbierten organischen Molekülen auf metallischen Oberflächen untersucht.

das vorhaben befasst sich mit der untersuchung der grundliegenden abbildungsmechanismen der nicht-kontakt-kontakt-kontakt-rasterkraftmikroskroskopie。 diese werden mit der从头开始，molekulardynamik durch den einsatz des leistungsstarken，Massiv Parallelen Programms estcompp untersucht。 Aufbauend auf den in Einemvorläuferprojektgewonnenen methoden werden die diekräftezwischen einer afmspitze und derprobenoberflächeauf auf atomarer skala untersucht untersucht。 ZunächstWerdenDie Arbeiten auf der Technisch Intersestanten halbleter-oberflächeInas（110）Fortgesetzt，dafürDiesesprobensystem vielestem vielest viele viele daten aus daten aus der rasterkraft- sowie der rastertunnelmikroskroskroskroskroskopie vorliegen。 Dabei Stehen vor allem die untersuchung der chemischen敏感性和迪阿比尔·冯·迪克森·迪克特·伊姆·沃德格伦德主人公一直在努力理解情况。我是一个主角，一直在努力理解这种情况。我是一个主角，一直在努力理解这种情况。