Development of detection and characterization techniques of single traps and innovative progress of trap physics

单一陷阱检测与表征技术发展及陷阱物理创新进展

• 批准号: 26289105
• 负责人: Tsuchiya Toshiaki
• 金额: $ 10.15万
• 依托单位: Shimane University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
• 财政年份: 2014
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2014-04-01 至 2017-03-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-26289105/
• 关键词: 電子デバイス・電子機器; マイクロ・ナノデバイス; 表面・界面物性

项目成果

チャージポンピング法によるMOS界面評価

使用电荷泵方法评估 MOS 接口

• 发表时间: 2014
• 作者: M. Yata;M. Fujita;and T. Nagatsuma;土屋敏章
• 通讯作者: 土屋敏章

Improvement of charge-pumping electrically detected magnetic resonance and its application to silicon metal-oxide-semiconductor field-effect transistor

电荷泵电检测磁共振的改进及其在硅金属氧化物半导体场效应晶体管中的应用

• DOI: 10.7567/apex.10.015701
• 发表时间: 2017
• 期刊: Appl. Phys. Express
• 作者: M.Hori;T.Tsuchiya;Y.Ono
• 通讯作者: Y.Ono

Detection and Characterization of Single MOS Interface Traps by the Charge Pumping Method

通过电荷泵方法检测和表征单 MOS 接口陷阱

• 发表时间: 2016
• 作者: T. Furuki;M. Ota;R. Watanabe;Y. Ishii;M. Fukuda;石川徹，根来翼，大島大輝，加藤剛志，岩田聡;冨士田誠之;土屋敏章，P. M. レナハン;住村あさひ，中山昂太郎，太田雅，福原誠史，石井佑弥，福田光男;大島大輝，加藤剛志，岩田聡;堀 匡寛，成松諒一，土屋敏章，小野行徳;太田雅，住村あさひ，福原誠史，伊藤基，石井佑弥，福田光男;冨士田誠之;董夏茵，大島大輝，加藤剛志，園部義明，岩田聡;Toshiaki Tsuchiya
• 通讯作者: Toshiaki Tsuchiya

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Evaluation of Accuracy of Charge Pumping Current in Time Domain

时域电荷泵电流精度评估

• DOI: 10.1587/transele.e98.c.390
• 发表时间: 2015
• 期刊: IEICE Transactions on Electronics
• 影响因子: 0.5
• 作者: T. Watanabe;M. Hori;T. Tsuchiya;Y. Ono
• 通讯作者: Y. Ono