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Establishment of Scientific Basis of the Strength and Reliability of Materials Based on the Order of Atom Arrangement and Its Application to the Explication of the Degradation Process of Materials

基于原子排列顺序的材料强度和可靠性科学依据的建立及其在解释材料降解过程中的应用

基本信息

批准号：
16H06357
负责人：
Miura Hideo
金额：
$ 67.23万
依托单位：
Tohoku University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (S)
财政年份：
2016
资助国家：
日本
起止时间：
2016-05-31 至 2021-03-31
项目状态：
已结题

项目摘要

项目成果

期刊论文数量（0）

专著数量（0）

科研奖励数量（0）

会议论文数量（0）

专利数量（0）

Acceleration Mechanism of the Degradation of the Strength of Heat-Resistant Alloys under Creep-Fatigue Loading at Elevated Temperatures

高温蠕变疲劳载荷下耐热合金强度退化的加速机制

DOI：
发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
0
作者：
Run-Zi Wang;Lv-Y iCheng;Shun-Peng Zhu;Peng-Cheng Zhao;Hideo Miura;Xian-Cheng Zhang;Shan-TungTu;Runzi Wang;Run-Zi Wang;Run-Zi Wang;Hideo Miura
通讯作者：
Hideo Miura

Electronic band structure analyses of dumbbell-shape graphene nanoribbon for highly sensitive and stable strain sensors

用于高灵敏稳定应变传感器的哑铃形石墨烯纳米带的电子能带结构分析

DOI：
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
0
作者：
田中稀瑛;内田弘毅;渡邉俊樹;内丸薫;中野和民;瀧川紘;Tachibana S;井戸康太;Nishihara S;Qinqiang Zhang
通讯作者：
Qinqiang Zhang

Micro-Texture-Controled Highly Reliable Copper Thin-Film Interconnections

微织构控制的高可靠性铜薄膜互连

DOI：
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
0
作者：
Arata Nishii;Hiroshi Takikawa;Keisuke Suzuki;松山智至，山田純平，井上陽登，表和彦，廣瀬雷太，武田佳彦，香村芳樹，矢橋牧名，石川哲也，山内和人;Takeru Kato
通讯作者：
Takeru Kato

華東理工大学/北京科学技術大学/清華大学(中国)

华东理工大学/北京科技大学/清华大学（中国）

DOI：
发表时间：
期刊：
影响因子：
0
作者：
通讯作者：

Initial Intergranular Cracking of Ni-Base Superalloys Due to the Degradation of the Crystallinity of Grain Boundaries Under Creep-Fatigue Loading

蠕变疲劳载荷下晶界结晶度退化导致镍基高温合金的初始晶间裂纹

DOI：
10.1007/978-3-030-47883-4_58
发表时间：
2020
期刊：
International Conference on Theoretical, Applied and Experimental Mechanics, proceeding
影响因子：
0
作者：
Suzuki Wataru;Luo Yifan;Ishihara Kenta;Suzuki Kens;Miura Hideo
通讯作者：
Miura Hideo

DOI：
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作者：
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Miura Hideo其他文献

On the one-peak stationary solutions for the Schnakenberg model with heterogeneity

异质性 Schnakenberg 模型的单峰平稳解

DOI：
发表时间：
2020
期刊：
RIMS Kokyuroku
影响因子：
0
作者：
Takahashi Yukako;Luo Yifan;Ishihara Kenta;Suzuki Shujiro;Miura Hideo;Ishii Yuta
通讯作者：
Ishii Yuta

3d遷移元素から構成される複合金属粒子のNO還元活性

3D过渡元素复合金属颗粒的NO还原活性

DOI：
发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
0
作者：
Goundar Jowesh Avisheik;Xiangyu Qiao;Suzuki Ken;Miura Hideo;宮原悠馬，平川大希，芳田嘉志，大山順也，町田正人;西山昂志，平川大希，佐藤徹哉，芳田嘉志，大山順也，町田正人;Jowesh Avisheik Goundar;Jowesh Avisheik Goundar;宮原悠馬，平川大希，芳田嘉志，大山順也，町田正人
通讯作者：
宮原悠馬，平川大希，芳田嘉志，大山順也，町田正人

Long-range topological correlations of real polycrystalline grains in two dimensions

二维真实多晶晶粒的长程拓扑相关性

DOI：
10.1016/j.matchar.2014.09.017
发表时间：
2014-11
期刊：
Materials Characterization
影响因子：
4.7
作者：
Wang Hao;Liu Guoquan;Chen Ying;Saengdeejing Arkapol;Miura Hideo;Suzuki Ken
通讯作者：
Suzuki Ken

Point Defect-Induced Variation of Electronic Properties and Reliability of Oxides for High Performance Devices

点缺陷引起的电子特性变化和高性能器件氧化物的可靠性

DOI：
发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
0
作者：
Goundar Jowesh Avisheik;Xiangyu Qiao;Suzuki Ken;Miura Hideo;Qinqiang Zhang; Ken Suzuki; Hideo Miura;Meng Yin;Hideo MIURA
通讯作者：
Hideo MIURA

グラフェンの電子バンド構造に及ぼす基板材料の影響の第一原理解析

第一性原理分析衬底材料对石墨烯电子能带结构的影响

DOI：
发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
0
作者：
Goundar Jowesh Avisheik;Xiangyu Qiao;Suzuki Ken;Miura Hideo;Qinqiang Zhang; Ken Suzuki; Hideo Miura;Meng Yin;Hideo MIURA;Jowesh Goundar;喬　向宇;長谷川堅隆
通讯作者：
長谷川堅隆