课题基金 / 基金详情

マルチスライスX線タイコグラフィによる広視野・高分解能・三次元バイオイメージング

マルチスライスX線タイコグラフィによる広視野・高分解能・三次元バイオイメージング
使用多层 X 射线叠层成像技术进行宽视场、高分辨率、三维生物成像
批准号:
16J00329
负责人:
下村 啓
金额:
$1.79万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for JSPS Fellows
财政年份:
2016
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2016-04-22 至 2019-03-31

项目摘要

项目成果

相似基金

相关文献

中文摘要
翻译
観察領域100×100×100 um3、空間分解能10×10×10 nm3での3次元観察を行うためには、Crowther limitの見積もりから30000を超える試料角度での測定が必要となり、1方向のタイコグラフィ測定で1時間程度要している現状では、実現不可能であることが明らかとなった。そこで、解析的に再構成に必要な測定角度数を低減することが可能か検討した。通常の3次元再構成計算法では、各角度で測定した試料全体の投影像から3次元像を再構成するため、マルチスライス位相回復計算で再構成された複数層の試料像から3次元再構成する場合には、各層を積算する必要があった。そこで、各層を積算することなく3次元再構成するために、逐次近似法とマルチスライス位相回復計算を融合した再構成アルゴリズムを開発した。本手法では、原理的には必要な角度数を(Crowther limit)/(分割層数)まで低減させることが可能である。開発した位相回復計算法を利用して、スチレン・ブタジエンゴムと金ナノ粒子から構成される3次元モデルを利用した計算機シミュレーションを行ったところ、3次元再構成に必要な測定角度数がCrowther limitの1/6程度の場合、-5°~ 5°の制限角度下での測定を想定した場合の両方において、FBPや加算型ARTなどの従来法に比べ、信頼性の高い試料像の再構成が可能であることが明らかとなった。また、SPring-8においてIntel社製CPUのタイコグラフィ測定を21の試料角度で行い、新たに開発した計算法を利用した再構成計算を実行したところ240 nm間隔で配置された多層配線の微細構造を可視化することに成功した。開発したアルゴリズムと現在、建設が計画されている東北放射光でのタイコグラフィ測定により、目標とする視野・分解能を両立した3次元観察が現実的な時間で達成可能になると期待される。
英文摘要
観察領域100×100×100 um3、空間分解能10×10×10 nm3での3次元観察を行うためには、Crowther limitの見積もりから30000を超える試料角度での測定が必要となり、1方向のタイコグラフィ測定で1時間程度要している現状では、実現不可能であることが明らかとなった。そこで、解析的に再構成に必要な測定角度数を低減することが可能か検討した。通常の3次元再構成計算法では、各角度で測定した試料全体の投影像から3次元像を再構成するため、マルチスライス位相回復計算で再構成された複数層の試料像から3次元再構成する場合には、各層を積算する必要があった。そこで、各層を積算することなく3次元再構成するために、逐次近似法とマルチスライス位相回復計算を融合した再構成アルゴリズムを開発した。本手法では、原理的には必要な角度数を(Crowther limit)/(分割層数)まで低減させることが可能である。開発した位相回復計算法を利用して、スチレン・ブタジエンゴムと金ナノ粒子から構成される3次元モデルを利用した計算機シミュレーションを行ったところ、3次元再構成に必要な測定角度数がCrowther limitの1/6程度の場合、-5°~ 5°の制限角度下での測定を想定した場合の両方において、FBPや加算型ARTなどの従来法に比べ、信頼性の高い試料像の再構成が可能であることが明らかとなった。また、SPring-8においてIntel社製CPUのタイコグラフィ測定を21の試料角度で行い、新たに開発した計算法を利用した再構成計算を実行したところ240 nm間隔で配置された多層配線の微細構造を可視化することに成功した。開発したアルゴリズムと現在、建設が計画されている東北放射光でのタイコグラフィ測定により、目標とする視野・分解能を両立した3次元観察が現実的な時間で達成可能になると期待される。
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科研奖励(0)
会议论文
新手法「暗視野X線タイコグラフィ」の実証に成功
成功演示新方法“暗场X射线叠层成像”
DOI: --
发表时间:
期刊:
影响因子: --
作者: []
通讯作者:
Multislice imaging of integrated circuits by X-ray ptychography
利用 X 射线叠层成像技术对集成电路进行多层成像
DOI: 10.1017/s1431927618012552
发表时间: 2018
期刊: Microscopy and Microanalysis
影响因子: 2.8
作者: [Kei Shimomura, Makoto Hirose, Takaya Higashino, Yukio Takahashi]
通讯作者: Yukio Takahashi
Efficient Use of Coherent X-rays in Ptychography
相干 X 射线在叠层成像中的高效使用
DOI: --
发表时间: 2016
期刊:
影响因子: --
作者: [Kei Shimomura, Nicolas Burdet, Makoto Hirose, Akihiro Suzuki, Yukio Takahashi]
通讯作者: Yukio Takahashi
マルチスライスX線タイコグラフィによる多層配線回路の観察
使用多层X射线叠层摄影术观察多层布线电路
DOI: --
发表时间: 2017
期刊:
影响因子: --
作者: [下村啓, 広瀬真, 高橋幸生]
通讯作者: 高橋幸生
共 16 条
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