ナノ機能構造の光学的検査を実現するコヒーレント型構造照明超解像顕微法の開発
ナノ機能構造の光学的検査を実現するコヒーレント型構造照明超解像顕微法の開発
批准号:
16J09539
负责人:
久米 大将
金额:
$1.79万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for JSPS Fellows
财政年份:
2016
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2016-04-22 至 2019-03-31
中文摘要
提案原理の基礎検証実験装置の問題点を洗い直し、実験装置の再設計及び再開発を進めた。計算機シミュレーションの準理想的な条件と異なり、実環境の計測実験においては振動等の外乱に弱いことが、当初計画していた手法の最大の弱点であった。実験装置構成の変更では解決が困難であることが判明したため、この問題に対して計画段階には無かった新規アプローチを採用した。観察試料から発せられる散乱光の位相制御のために、当初の計画に沿って試料に照射する照明側の工夫で解決を試みてきたが、理想的ではない実際の系においては、照明側の工夫には限界があり外乱に対する脆弱性のため期待した効果を得ることが困難であった。そこで本年度は、試料面上で複雑な照明を作り込むのではなく、参照光を使って撮像素子面上の干渉を利用する手法を考案し、特許出願も行った。数値解析による提案原理の理論検証により、この新規アプローチによっても当初計画の超解像システムと同等の解像力(通常顕微法の2倍の解像力)が実現可能であることを示し、さらに原理検証実験のための装置開発も進め、研究成果を国内会議Optics &Photonics Japan 2018 (OPJ2018)及び精密工学会学術講演会2018年度春季大会にて発信した。
英文摘要
提案原理の基礎検証実験装置の問題点を洗い直し、実験装置の再設計及び再開発を進めた。計算機シミュレーションの準理想的な条件と異なり、実環境の計測実験においては振動等の外乱に弱いことが、当初計画していた手法の最大の弱点であった。実験装置構成の変更では解決が困難であることが判明したため、この問題に対して計画段階には無かった新規アプローチを採用した。観察試料から発せられる散乱光の位相制御のために、当初の計画に沿って試料に照射する照明側の工夫で解決を試みてきたが、理想的ではない実際の系においては、照明側の工夫には限界があり外乱に対する脆弱性のため期待した効果を得ることが困難であった。そこで本年度は、試料面上で複雑な照明を作り込むのではなく、参照光を使って撮像素子面上の干渉を利用する手法を考案し、特許出願も行った。数値解析による提案原理の理論検証により、この新規アプローチによっても当初計画の超解像システムと同等の解像力(通常顕微法の2倍の解像力)が実現可能であることを示し、さらに原理検証実験のための装置開発も進め、研究成果を国内会議Optics &Photonics Japan 2018 (OPJ2018)及び精密工学会学術講演会2018年度春季大会にて発信した。
期刊论文(0)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
登录
查看更多内容
コヒーレント結像型構造照明顕微法の検討
相干成像结构照明显微镜研究
DOI:
--
发表时间:
2018
期刊:
影响因子:
--
作者:
[Yoshiyasu Ichikawa, Ken Yamamoto, Makoto Yamamoto and Masahiro Motosuke, 久米大将,道畑正岐,高増潔,高橋哲]
通讯作者:
久米大将,道畑正岐,高増潔,高橋哲
顕微鏡及び顕微法
显微镜和显微镜
DOI:
--
发表时间:
2018
期刊:
影响因子:
--
作者:
[]
通讯作者:
A novel optical super-resolution microscopy for coherent imaging system for micro-structured surface inspection
一种用于微结构表面检测的相干成像系统的新型光学超分辨率显微镜
DOI:
--
发表时间:
2019
期刊:
影响因子:
--
作者:
[Hiromasa Kume, Masaki Michihata, Kiyoshi Takamasu, Satoru Takahashi]
通讯作者:
Satoru Takahashi
定在波シフトによる半導体ウエハ表面の超解像光学式欠陥検査(第23報)ー2光束干渉定在波照明と参照光によるコヒーレント超解像法ー
利用驻波位移对半导体晶片表面进行超分辨光学缺陷检查(第23次报告) - 使用两束干涉驻波照明和参考光的相干超分辨方法 -
DOI:
--
发表时间:
2019
期刊:
影响因子:
--
作者:
[Kido Kohei, Yokokawa Takumi, Ato Satoru, Sato Koji, Fujita Satoshi, 久米大将,道畑正岐,高増 潔,高橋 哲]
通讯作者:
久米大将,道畑正岐,高増 潔,高橋 哲
定在波シフトによる半導体ウエハ表面の超解像光学式欠陥検査(第 22 報)ー基礎実験装置の基本機能の確認ー
利用驻波位移对半导体晶片表面进行超分辨率光学缺陷检查(第22次报告) - 确认基本实验设备的基本功能 -
DOI:
--
发表时间:
2017
期刊:
影响因子:
--
作者:
[Satoru Ato, Kohei Kido, Tatsuki Miyake, Takumi Yokokawa, Satoshi Fujita, 久米大将,道畑正岐,高増潔,高橋哲]
通讯作者:
久米大将,道畑正岐,高増潔,高橋哲