微小疲労き裂における疲労き裂進展下限界有効応力拡大係数の実測

微疲劳裂纹中疲劳裂纹扩展下限有效应力强度因子的实测

• 批准号: 22K03835
• 负责人: 西川 嗣彬
• 金额: $ 2.75万
• 依托单位: National Institute for Materials Science
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• 财政年份: 2022
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2022-04-01 至 2025-03-31
• 项目状态: 未结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-22K03835/
• 关键词: 金属疲労; 疲労亀裂; 微小疲労き裂; 画像相関法

疲労亀裂の進展下限界特性が、学術的にも工学的に非常に重要な特性であることは言うまでもない。疲労亀裂が成長しない閾値を表す力学パラメータである「下限界応力拡大係数範囲　ΔKth」は、き裂長さによらず一定の値となるため、工学的に重要な材料特性として幅広く利用されている。しかしながら、ある閾値を超えて亀裂が短くなると、ΔKthは低下しはじめることが古くから知られている。これが、短い亀裂に破壊力学を適用すると危険側の予測を与える理由であり、多くの研究が行われてきた。ΔKthは疲労亀裂の成長に伴う塑性変形の履歴による、"亀裂閉口"の影響を受けた特性であることから、本質的な材料の疲労き裂進展抵抗は、き裂閉口成分を除いた「下限界有効応力拡大係数範囲　ΔKeff threshold」であると考えられている。また、不思議なことに、材質に関係なく、ΔKeff thresholdは似たような値になることが、長い亀裂を対象にした多くのデータによって示されている。つまり、多くの研究者は、短い亀裂では、亀裂閉口の影響でΔKthが低下すると考えている。しかしながら、短い亀裂でΔKeff thresholdを実測した例は無く、本質的なΔKth低下の原因は曖昧なまま残されてきた。その理由は、ΔKeff thresholdを実測する方法が無かったことが一因である。本研究の代表者は、マイクロスコープと画像相関法を組み合わせることで、ミクロな疲労亀裂で亀裂開閉口を実測する手法を確立してきた。本研究の目的は、この方法を活用し、短い亀裂におけるΔKeff thresholdを実測することで、その寸法依存性や硬さ依存性を明らかにすることである。これまでに、進展を停止したミクロな疲労亀裂のΔKeff thresholdの実測に成功しており、亀裂が短くなるにつれ低下する傾向があることが明らかになりつつある。

The lower bound characteristics of fatigue and crack progress are very important characteristics of academic and engineering. The threshold value of fatigue crack growth is expressed in the "lower limit force coefficient Δ Kth", and the crack length is expressed in the "lower limit force coefficient ΔKth", and the important material characteristics of engineering are expressed in the "lower limit force coefficient Δ Kth".しかしながら、ある阈値を超えて亀裂が短くなると、ΔKthは低下しはじめることが古くから知られている。For example, if a short time is needed, the mechanics of the crack will be applied to the prediction of the dangerous side and the reasons for the study will be discussed.ΔKth is the growth of fatigue crack accompanied by plastic deformation, and the influence of "crack closure" is affected by the characteristics of fatigue crack progression resistance, and the crack closure component is removed."The lower limit has a large coefficient of ΔKeff threshold." For example, if you want to change your mind, you can change your mind. The effect of short crack and close crack on ΔKth is lower than that of many researchers. The reason why ΔKth is low is unclear. The reason for this is that the ΔKeff threshold is not measured. The representative of this study is to establish the method of combining the image correlation method with the image correlation method. The purpose of this study is to make use of this method, to measure the ΔKeff threshold, and to clarify the dependence of the method and the hard dependence. This is the first time that we've had a chance to test the Keff threshold successfully.