Piezoelectric analysis for inside of the stressed thin films by cross sectional AFM
Piezoelectric analysis for inside of the stressed thin films by cross sectional AFM
通过截面 AFM 对受应力薄膜内部进行压电分析
批准号：
26820294
负责人：
Sakamoto Naonori
金额：
$2.5万
依托单位：
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
财政年份：
2014
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2014-04-01 至 2016-03-31
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Arイオンミリングを用いたPb(Zr,Ti)03薄膜断面の形成とAFMによる圧電応答評価
使用 Ar 离子铣削形成 Pb(Zr,Ti)03 薄膜横截面并使用 AFM 评估压电响应
使用 Ar 离子铣削形成 Pb(Zr,Ti)03 薄膜横截面并使用 AFM 评估压电响应
DOI：
--
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
作者：
[宮崎智史, 坂元尚紀, 川口昂彦, 脇谷尚樹, 鈴木久男]
通讯作者：
鈴木久男
ナノ材料の顕微鏡観察による局所構造の解析
通过纳米材料的显微观察分析局部结构
通过纳米材料的显微观察分析局部结构
DOI：
--
发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
--
作者：
[坂元尚紀, 宮崎智史, 山本祥太, 脇谷尚樹, 鈴木久男]
通讯作者：
鈴木久男
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