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Transistor Array Measurements for Physical Unclonable Function with Flexible Printable Transistors

使用柔性可打印晶体管进行物理不可克隆功能的晶体管阵列测量

基本信息

批准号：
22K11966
负责人：
小笠原泰弘
金额：
$ 2.66万
依托单位：
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份：
2022
资助国家：
日本
起止时间：
2022-04-01 至 2025-03-31
项目状态：
未结题

项目摘要

フレキシブル印刷トランジスタの多素子測定のため、測定用ボードの設計・製造、および測定用フレキシブル印刷トランジスタTEGチップを設計・作製し、多素子測定を実施した。測定用ボードはTEGチップに接続して使用し、チップ上の測定対象の素子の選択を行う。測定用ボードの課題として、多素子を選択肢切り替えるスイッチング素子の課題があった。スイッチング素子には素子を電気的に制御すること、オン電流20uAの容量とオフ電流1pAの精度を実現すること、長期間にわたり動作可能であることの要件が必要となる。既存のトランジスタ部品はオン電流の要件を満たすものが多いが、オフ電流精度について保証があるものは少ない。本研究では電気的制御により物理的に配線を切断することが可能であるリレー素子を採用した。TEGチップはまず1次元アレイを用いて64素子のトランジスタを搭載した構造のものを設計・製造した。製造した測定ボードの素子選択可能数の最大値が64素子であり、1次元アレイではこの素子数が最大となる。測定ボードとTEGチップを用いて自動測定を行った結果、測定時間2時間で64素子を測定することに成功した。測定時間のうち人手による操作が必要であるのは最初のセットアップの数分のみであり、手作業でプローブ針を操作する従来方法に比べて極めて効率的である多素子測定を実現した。これらの結果は国際会議 2023 International Conference on Solid State Devices and Materials にて発表し、Japanese Journal of Applied Physics 誌に掲載された。

The printing system is based on the multi-element sub-test device, the test device, the printing system, the TEG device, and the multi-element sub-test device. To determine the value of the pixel sub-pixel, select the line line. Use the TEG to determine the pixel sub-unit. The measurement is based on the selection of multi-element sub-system and multi-element sub-system, and the multi-element sub-system is selected to replace the sub-problem problem. It is necessary to improve the accuracy of 20uA, 1pA, and the necessary requirements for long-term operation. The existing parts and components of the current system are sensitive to the accuracy of the current and the accuracy of the current. In this study, the control system of electronic equipment, the wiring of physics, the disconnection of electrical equipment, and the use of vegetarian devices may be necessary. In the TEG system, one-dimensional data acquisition system is used to make the device design and make the device. To determine the number of prime elements, you can select the maximum number of elements, the number of elements in the first dimension, and the number of elements in the first dimension. To determine the result of the automatic test of the TEG system, and to determine the success of the test time of 2 minutes. It is necessary to determine the time limit for manual operation. It is necessary to determine the number of manual operation, manual operation and manual operation to compare the detection of the operating rate. The results of the International Conference 2023 International Conference on Solid State Devices and Materials International Conference, Japanese Journal of Applied Physics International Conference, International Conference and International Conference.