课题基金 / 基金详情

表面系におけるスピン輸送の研究

表面系におけるスピン輸送の研究
表面系统中自旋输运的研究
批准号:
13J01282
负责人:
福居 直哉
金额:
$1.73万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for JSPS Fellows
财政年份:
2013
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2013-04-01 至 2016-03-31

项目摘要

项目成果

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中文摘要
翻译
固体表面は空間反転対称性が破れているため、しばしばスピン縮退が解けてバンドが分裂する。トポロジカル絶縁体表面はその極端な例で、スピンの方向と運動量の方向が必ず直交している。そのため、運動量を反転する後方散乱や反射は抑制される。原子ステップのようなポテンシャル障壁も透過しやすいといわれ、実際にSTSを用いて実証されている。しかし、それがマクロな電子輸送現象に与える影響はこれまで不明であった。それを解明するため、今年度の研究ではトポロジカル絶縁体表面での原子ステップの抵抗測定を試みた。微傾斜基板にトポロジカル絶縁体薄膜を成長させることで方向のそろった多数のステップを用意し、ステップ垂直、平行方向の抵抗率を測定した。その差などからステップ1本あたりの抵抗を見積もり、ステップ抵抗からステップ透過率を計算した。フェルミエネルギーに表面状態のみが存在する試料(Pb-doped-Bi2Te3)の透過率は0.5程度であり、トポロジカル絶縁体でない表面状態の透過率よりも高かった。この透過率の高さはトポロジカル絶縁体表面の特徴である後方散乱の抑制を反映していると解釈できる。一方で、フェルミエネルギーに表面状態とバルク状態が存在する試料(Non-doped Bi2Te3)においては透過率が0.05であり、バルク状態の存在がステップ透過率を低下させることが判明した。また、双方ともトポロジカル絶縁体であるBi2Te3とBi2Se3のステップ透過率を比較すると、Bi2Se3のほうが高かった。Bi2Se3はフェルミ面の形状がBi2Te3よりも円形に近く、それに伴って後方散乱の抑制もより強力であることが既に知られており、それと関連すると思われる。このように、トポロジカル絶縁体のミクロなステップ透過特性が電気抵抗に反映されることが当研究により明らかとなった。
英文摘要
固体表面は空間反転対称性が破れているため、しばしばスピン縮退が解けてバンドが分裂する。トポロジカル絶縁体表面はその極端な例で、スピンの方向と運動量の方向が必ず直交している。そのため、運動量を反転する後方散乱や反射は抑制される。原子ステップのようなポテンシャル障壁も透過しやすいといわれ、実際にSTSを用いて実証されている。しかし、それがマクロな電子輸送現象に与える影響はこれまで不明であった。それを解明するため、今年度の研究ではトポロジカル絶縁体表面での原子ステップの抵抗測定を試みた。微傾斜基板にトポロジカル絶縁体薄膜を成長させることで方向のそろった多数のステップを用意し、ステップ垂直、平行方向の抵抗率を測定した。その差などからステップ1本あたりの抵抗を見積もり、ステップ抵抗からステップ透過率を計算した。フェルミエネルギーに表面状態のみが存在する試料(Pb-doped-Bi2Te3)の透過率は0.5程度であり、トポロジカル絶縁体でない表面状態の透過率よりも高かった。この透過率の高さはトポロジカル絶縁体表面の特徴である後方散乱の抑制を反映していると解釈できる。一方で、フェルミエネルギーに表面状態とバルク状態が存在する試料(Non-doped Bi2Te3)においては透過率が0.05であり、バルク状態の存在がステップ透過率を低下させることが判明した。また、双方ともトポロジカル絶縁体であるBi2Te3とBi2Se3のステップ透過率を比較すると、Bi2Se3のほうが高かった。Bi2Se3はフェルミ面の形状がBi2Te3よりも円形に近く、それに伴って後方散乱の抑制もより強力であることが既に知られており、それと関連すると思われる。このように、トポロジカル絶縁体のミクロなステップ透過特性が電気抵抗に反映されることが当研究により明らかとなった。
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科研奖励(0)
会议论文
微斜面トポロジカル絶縁体薄膜の電気伝導異方性
邻位拓扑绝缘体薄膜的导电各向异性
DOI: --
发表时间: 2014
期刊:
影响因子: --
作者: [福居直哉, 平原徹, 長谷川修司]
通讯作者: 長谷川修司
Bi2Se3薄膜のin situ微細加工と4探針測定によるスピンホール効果検出の試み
Bi2Se3薄膜原位微加工及四探针测量检测自旋霍尔效应的尝试
DOI: --
发表时间: 2013
期刊:
影响因子: --
作者: [福居直哉, 平原徹, 長谷川修司]
通讯作者: 長谷川修司
The electronic conduction anisotropy of topological insulator thin films, Bi2Te3 and Bi2Se3, grown on a vicinal substrate
在邻接衬底上生长的拓扑绝缘体薄膜 Bi2Te3 和 Bi2Se3 的电子传导各向异性
DOI: --
发表时间: 2014
期刊:
影响因子: --
作者: [N. Fukui, T. Hirahara, and S. Hasegawa]
通讯作者: and S. Hasegawa
in situ微細加工構造を用いたBi2Se3のスピンホール効果測定
使用原位微加工结构测量 Bi2Se3 的自旋霍尔效应
DOI: --
发表时间: 2014
期刊:
影响因子: --
作者: [福居直哉, 平原徹, 長谷川修司]
通讯作者: 長谷川修司
共 15 条
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