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Ellipsometric characterization of electronic thin films for device applications

Ellipsometric characterization of electronic thin films for device applications
用于设备应用的电子薄膜的椭偏表征
批准号：
241390-2001
负责人：
Sivoththaman, Sivanarayana
金额：
$8.86万
依托单位：
University of Waterloo
依托单位国家：
加拿大
项目类别：
Research Tools and Instruments - Category 1 (<$150,000)
财政年份：
2000
资助国家：
加拿大
项目状态：
已结题
起止时间：
2000-01-01 至 2001-12-31
来源：
https://www.nserc-crsng.gc.ca/ase-oro/Details-Detailles_eng.asp?id=178569
关键词：
Ellipsometriccharacterizationelectronicthinfilms

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Technologies for advanced and cost effective photovoltaic solar cells
  • 批准号：
    257592-2002
  • 项目类别：
    Strategic Projects - Group
  • 资助金额：
    $3.4万
  • 财政年份：
    2002
  • 负责人：
    Sivoththaman, Sivanarayana
  • 依托单位：
    University of Waterloo
NSERC/COM DEV Industrial Research Chair in Filter and switch technologies
  • 批准号：
    261166-2002
  • 项目类别：
    Industrial Research Chairs
  • 资助金额：
    $10.14万
  • 财政年份：
    2002
  • 负责人：
    Sivoththaman, Sivanarayana
  • 依托单位：
    University of Waterloo
Low permittivity dielectric materials for integrated circuit processing
  • 批准号：
    229137-2000
  • 项目类别：
    Discovery Grants Program - Individual
  • 资助金额：
    $1.37万
  • 财政年份：
    2002
  • 负责人：
    Sivoththaman, Sivanarayana
  • 依托单位：
    University of Waterloo
Low permittivity dielectric materials for integrated circuit processing
  • 批准号：
    229137-2000
  • 项目类别：
    Discovery Grants Program - Individual
  • 资助金额：
    $1.37万
  • 财政年份：
    2001
  • 负责人：
    Sivoththaman, Sivanarayana
  • 依托单位：
    University of Waterloo
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