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Development of world class scanning electrical probe mircoscopy for applications in semiconductor reverse engineering
开发世界一流的扫描电子探针显微镜，用于半导体逆向工程
基本信息
- 批准号：436457-2012
- 负责人：
- 金额：$ 0.73万
- 依托单位：
- 依托单位国家：加拿大
- 项目类别：Industrial R&D Fellowships (IRDF)
- 财政年份：2012
- 资助国家：加拿大
- 起止时间：2012-01-01 至 2013-12-31
- 项目状态：已结题
- 来源：
- 关键词：
项目摘要
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项目成果
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开发世界一流的扫描电子探针显微镜，用于半导体逆向工程
- 批准号：
436457-2012 - 财政年份：2013
- 资助金额：
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PTCDI and derivatives on insulating substrates: characterization of flexible molecules for nanoelectronic devices
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