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Developing radiation tolerant standard cells for integrated circuit design
开发用于集成电路设计的耐辐射标准单元
基本信息
- 批准号：542028-2019
- 负责人：
- 金额：$ 0.33万
- 依托单位：
- 依托单位国家：加拿大
- 项目类别：University Undergraduate Student Research Awards
- 财政年份：2019
- 资助国家：加拿大
- 起止时间：2019-01-01 至 2020-12-31
- 项目状态：已结题
- 来源：
- 关键词：
项目摘要
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项目成果
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Li, Zongru其他文献
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- 影响因子：2.6
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Huang, Xiaojun
Comparison of Total Ionizing Dose Effects in 22-nm and 28-nm FD SOI Technologies
- DOI：
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- 影响因子：2.9
- 作者：
Li, Zongru;Elash, Christopher Jarrett;Shi, Shuting - 通讯作者：
Shi, Shuting
Li, Zongru的其他文献
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{{ truncateString('Li, Zongru', 18)}}的其他基金
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22nmFDSOI 耐辐射 RISC-V 微处理器
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