高精度双臂太赫兹时域光谱-薄膜应力分析系统

批准号:
11772222
项目类别:
面上项目
资助金额:
98.0 万元
负责人:
王志勇
依托单位:
学科分类:
A0812.实验固体力学
结题年份:
2021
批准年份:
2017
项目状态:
已结题
项目参与者:
李传崴、王志强、周磊、康凯、韩运辉、李荣坚、李腾
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中文摘要
膜基结构是超材料和柔性电子设备等光电子器件的基础结构。建立有效的实验手段对膜基结构进行应力分析,对于这些光电子器件的研究与设计有非常重要的意义。本项目的前期研究表明虽然太赫兹脉冲照射金属薄膜时大部分能量被反射或吸收,但透射的微弱信号可以被太赫兹时域光谱系统准确探测。本项目拟以上述特性为基础,改进现有太赫兹时域光谱系统,构建一个薄膜应力分析系统。拟重点从如下四个方面开展研究:1)建立双臂太赫兹时域光谱差分系统,实现膜、基内部应力的分离;2)研究金属薄膜的应力光学效应,为应力分析奠定理论基础; 3)研究薄膜应力在上述双臂系统中的光谱传递模式,并建立相应的算法实现应力参量的分离与提取;4)探寻对系统时间分辨率有重要影响的关键因素,并建立相应的误差传递模型,为进一步提高系统的时间分辨率奠定基础。最后,综合利用上述技术,建立可用于探测薄膜内应力信息的高精度的双臂太赫兹时域光谱差分系统。
英文摘要
The film-substrate system is the basic structure of some optoelectronic devices such as metamaterials and flexible electronic devices. It is of great significance for the research and design of these optoelectronic devices to establish an effective experimental method for the stress analysis for film-substrate system. The preliminary study of this project shows that although most of the energy is reflected and absorbed when a terahertz plus is projected on a metal film, the weaken signal can be accurately detected by THz time-domain spectroscopy system. On the basis of the mentioned phenomenon, this project proposes an improved terahertz time-domain spectroscopy system to construct system to analyze the stress in thin film. The projected will carry out the research from four aspects as follows. Firstly, a terahertz time-domain spectrum difference system with double probing arms will be established to separate stresses in thin film and substrate. Secondly, stress optical effects of metal films will be investigated so that a theoretical basis can be laid of stress analysis according to the obtained spectrum information. Thirdly, the relationship between the transmission spectrum and the undergone stresses will be researched so that an algorithm can be established to obtain the stress parameters. At last, we will to explore the key factors which have important effect on the time resolution of the established system, and establish the corresponding error propagation model, which lays the foundation for further improving the time resolution of the system. Based on the mentioned techniques, a high accuracy dual-arm terahertz time-domain spectral difference system can be established to detect the stress information of the thin films.
膜基结构是超材料和柔性电子设备等光电子器件的基础结构。建立有效的实验手段对膜基结构进行应力分析,对于这些光电子器件的研究与设计有非常重要的意义。本项目在自然科学基金的支持下,重点研究了利用太赫兹波测量典型的薄膜材料-铝和铜、典型的各向异性基底材料-硅的内部应力的方法。重点从如下四个方面开展研究:1)改进现有太赫兹时域光谱系统,构建一个薄膜应力分析系统。2)建立了双臂太赫兹时域光谱差分系统,提高系统的信噪比; 3)研究了薄膜应力在上述太赫兹光谱系统中的光谱传递模式,并建立了相应的算法实现应力参量的分离与提取;4)确定了对系统时间分辨率有重要影响的关键因素,并建立相应的误差传递模型,提出了提高系统的时间分辨率的信号处理算法。
期刊论文列表
专著列表
科研奖励列表
会议论文列表
专利列表
DOI:10.1109/tthz.2017.2786692
发表时间:2018
期刊:IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology
影响因子:3.2
作者:Zhiyong Wang;Yunhui Han;Ningning Xu;Lin Chen;Chuanwei Li;Liang Wu;Weili Zhang
通讯作者:Weili Zhang
DIC/Moire hybrid method based on regular patterns for deformation measurement
基于规则图案的 DIC/Moire 混合方法进行变形测量
DOI:10.1364/oe.27.018435
发表时间:2019
期刊:Optics Express
影响因子:3.8
作者:Wang Zhiyong;Wu Hao;Kang Kai;Wang Shibin;Li Yuehua;Hou Weijie;Riaz Hussain;Li Lin'an;Li Chuanwei
通讯作者:Li Chuanwei
膜基结构内部与界面应力的光谱力学精细测量方法
- 批准号:--
- 项目类别:专项基金项目
- 资助金额:350万元
- 批准年份:2020
- 负责人:王志勇
- 依托单位:
基于太赫兹光谱近场成像技术的应力场测量方法
- 批准号:11572217
- 项目类别:面上项目
- 资助金额:120.0万元
- 批准年份:2015
- 负责人:王志勇
- 依托单位:
太赫兹波时域双折射光谱应力测量原理与方法
- 批准号:11102130
- 项目类别:青年科学基金项目
- 资助金额:30.0万元
- 批准年份:2011
- 负责人:王志勇
- 依托单位:
国内基金
海外基金
