膜基结构内部与界面应力的光谱力学精细测量方法
批准号:
--
项目类别:
专项基金项目
资助金额:
350 万元
负责人:
王志勇
依托单位:
学科分类:
机械测试理论与技术
结题年份:
--
批准年份:
2020
项目状态:
未结题
项目参与者:
王志勇
高精度双臂太赫兹时域光谱-薄膜应力分析系统
-
批准号:11772222
-
项目类别:面上项目
-
资助金额:98.0万元
-
批准年份:2017
-
负责人:王志勇
-
依托单位:
基于太赫兹光谱近场成像技术的应力场测量方法
-
批准号:11572217
-
项目类别:面上项目
-
资助金额:120.0万元
-
批准年份:2015
-
负责人:王志勇
-
依托单位:
太赫兹波时域双折射光谱应力测量原理与方法
-
批准号:11102130
-
项目类别:青年科学基金项目
-
资助金额:30.0万元
-
批准年份:2011
-
负责人:王志勇
-
依托单位:
国内基金
海外基金