膜基结构内部与界面应力的光谱力学精细测量方法
批准号：
--
项目类别：
专项基金项目
资助金额：
350 万元
负责人：
王志勇
依托单位：
天津大学
学科分类：
--
结题年份：
--
批准年份：
2020
项目状态：
未结题
项目参与者：
王志勇
关键词：
膜基结构内部界面应力光谱力学
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高精度双臂太赫兹时域光谱-薄膜应力分析系统
  • 批准号：
    11772222
  • 项目类别：
    面上项目
  • 资助金额：
    98.0万元
  • 批准年份：
    2017
  • 负责人：
    王志勇
  • 依托单位：
    天津大学
基于太赫兹光谱近场成像技术的应力场测量方法
  • 批准号：
    11572217
  • 项目类别：
    面上项目
  • 资助金额：
    120.0万元
  • 批准年份：
    2015
  • 负责人：
    王志勇
  • 依托单位：
    天津大学
太赫兹波时域双折射光谱应力测量原理与方法
  • 批准号：
    11102130
  • 项目类别：
    青年科学基金项目
  • 资助金额：
    30.0万元
  • 批准年份：
    2011
  • 负责人：
    王志勇
  • 依托单位：
    天津大学
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