基于超快测温、超快成像同步原位监测的SiC MOSFET短路失效行为与机理研究
批准号：
62274122
项目类别：
面上项目
资助金额：
52 万元
负责人：
陈志文
依托单位：
学科分类：
半导体电子器件与集成
结题年份：
--
批准年份：
2022
项目状态：
未结题
项目参与者：
陈志文
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批准年份：2019
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负责人：陈志文
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依托单位：
国内基金
海外基金