嵌核系统芯片测试方法研究

批准号：

60073032

项目类别：

面上项目

资助金额：

15.0 万元

负责人：

黄维康

依托单位：

复旦大学

学科分类：

计算机科学的基础理论

结题年份：

2003

批准年份：

2000

项目状态：

已结题

项目参与者：

杨连兴、司派发、熊志平

关键词：

系统测试.集成电路测试

项目摘要

结项摘要

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中文摘要

单芯片系统（System on Chip）的设计开始大量的使用IP核。这种系统芯片称为嵌核系统芯片（Embedded-Core Based System）。本项目研究IP核和嵌核系统芯片的测试，提出解决嵌核系统测试的有效途径。本研究工作对于我国集成电路特别是采用亚微米和深亚微米技术后集成电路的实际和生产具有重要意义。

英文摘要

ＦＰＧＡ的内建自诊断和容错使用

批准号：

69773011
项目类别：

面上项目
资助金额：

10.0万元
批准年份：

1997
负责人：

黄维康
依托单位：

复旦大学

高可测性时序电路结构研究

批准号：

69176023
项目类别：

面上项目
资助金额：

3.0万元
批准年份：

1991
负责人：

黄维康
依托单位：

复旦大学

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