VLSI／ULSI可靠性的监测与模拟
批准号：
69576004
项目类别：
面上项目
资助金额：
12.0 万元
负责人：
杨谟华
依托单位：
电子科技大学
学科分类：
F0406.集成电路器件、制造与封装
结题年份：
1998
批准年份：
1995
项目状态：
已结题
项目参与者：
曾军、张开华、卢波、肖兵、刘诺、陈勇、喻军、于奇
关键词：
VLSI可靠性寿命与失效率监测与模拟
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低压低功耗模拟集成电路技术研究
  • 批准号：
    60072004
  • 项目类别：
    面上项目
  • 资助金额：
    16.0万元
  • 批准年份：
    2000
  • 负责人：
    杨谟华
  • 依托单位：
    电子科技大学
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