VLSI/ULSI可靠性的监测与模拟
批准号:
69576004
项目类别:
面上项目
资助金额:
12.0 万元
负责人:
杨谟华
依托单位:
学科分类:
集成电路器件、制造与封装
结题年份:
1998
批准年份:
1995
项目状态:
已结题
项目参与者:
曾军、张开华、卢波、肖兵、刘诺、陈勇、喻军、于奇
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DOI:
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发表时间:
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期刊:
电子科技大学学报
影响因子:
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作者:
[陈勇, 钟玲]
通讯作者:
钟玲
DOI:
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发表时间:
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期刊:
电子科技大学学报
影响因子:
--
作者:
[陈勇, 于奇等]
通讯作者:
于奇等
An Analgtical Physical Model for Short-channel MOSFETs
短沟道 MOSFET 的解析物理模型
DOI:
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发表时间:
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期刊:
Semiconductor Sci & Tech
影响因子:
--
作者:
[杨谟华, 于奇等]
通讯作者:
于奇等
DOI:
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发表时间:
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期刊:
微电子学
影响因子:
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作者:
[刘永强, 于奇等]
通讯作者:
于奇等
DOI:
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发表时间:
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期刊:
电子科技导报
影响因子:
--
作者:
[杨谟华, 方明]
通讯作者:
方明
低压低功耗模拟集成电路技术研究
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批准号:60072004
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项目类别:面上项目
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资助金额:16.0万元
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批准年份:2000
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负责人:杨谟华
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依托单位:
国内基金
海外基金