空态电子结构SRPES测量方法的建立及其在有机电子态确定中的应用

空态结构在物质电子结构，尤其是有机半导体性质研究中具有重要地位。有机半导体及有机界面光电性能与其最高占据轨道（HOMO）及最低空轨道（LUMO）以上的空态有着直接关系。目前多借助XPS、UPS等常规手段，结合吸收光谱和理论计算，得到LUMO、HOMO与费米能级的相对位置，而对空态能级结构及态密度的测量无能为力。同步辐射光电子能谱技术不仅具有一般常规手段的所有优点，而且其激发源波长连续可调，拥有固定初态（CIS）/固定终态（CFS）/部分电子产额（PYS）等工作模式。芯能级PYS是除反光电子能谱外唯一能用来研究真空能级以下空态信息的现代光电子能谱技术。CIS谱扫描能够较容易得到能级结构中有关空态的直接信息。本课题充分利用同步辐射光电子能谱技术多种工作模式的优势，研究有机材料空态电子结构，不仅有利于充分发展能谱技术，为用户提供更多服务和测试，而且对有机半导体作用机制及器件设计具有理论指导意义。