Writing 3D Nanomagnets Using Focused Electron Beams.
Writing 3D Nanomagnets Using Focused Electron Beams.
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DOI：
10.3390/ma13173774
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发表时间：
2020-08-26
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Dobrovolskiy OV
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Fernández-Pacheco A;Skoric L;De Teresa JM;Pablo-Navarro J;Huth M;Dobrovolskiy OV
聚焦电子束诱导沉积(FEBID)是一种直接写入纳米加工技术，能够以与特征磁长尺度相当的分辨率图案化三维磁性纳米结构。因此，FEBID是3D纳米磁性的强大工具，它能够实现涉及复杂3D几何图形的独特基础研究，以及与低吞吐量兼容的纳米原型和专门应用。在这篇重点综述中，我们讨论了这项技术在三维纳米磁学中应用的最新进展，即FEBID计算方法的实质性进展，以及调节铁磁性FEBID材料磁性的新途径。我们还回顾了一些涉及FEBID 3D纳米结构的最新工作，如扫描探针显微镜传感、磁挫折现象、曲线磁性、磁农学和磁通学，为FEBID在未来几年可能在涉及3D磁性纳米结构的新现象的研究中发挥的重要作用提供了广阔的前景。
Focused electron beam induced deposition (FEBID) is a direct-write nanofabrication technique able to pattern three-dimensional magnetic nanostructures at resolutions comparable to the characteristic magnetic length scales. FEBID is thus a powerful tool for 3D nanomagnetism which enables unique fundamental studies involving complex 3D geometries, as well as nano-prototyping and specialized applications compatible with low throughputs. In this focused review, we discuss recent developments of this technique for applications in 3D nanomagnetism, namely the substantial progress on FEBID computational methods, and new routes followed to tune the magnetic properties of ferromagnetic FEBID materials. We also review a selection of recent works involving FEBID 3D nanostructures in areas such as scanning probe microscopy sensing, magnetic frustration phenomena, curvilinear magnetism, magnonics and fluxonics, offering a wide perspective of the important role FEBID is likely to have in the coming years in the study of new phenomena involving 3D magnetic nanostructures.
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影响因子：
3.4
作者：
Al Mamoori, Mohanad K. I.;Keller, Lukas;Huth, Michael
通讯作者：
Huth, Michael
影响因子：
17.1
作者：
Andersen, Ingrid Marie;Alfredo Rodriguez, Luis;Snoeck, Etienne
通讯作者：
Snoeck, Etienne
影响因子：
3.5
作者：
Bresin, M.;Toth, M.;Dunn, K. A.
通讯作者：
Dunn, K. A.
DOI：
10.1007/s00339-014-8617-7
发表时间：
2014-12-01
影响因子：
2.7
作者：
De Teresa, J. M.;Fernandez-Pacheco, A.
通讯作者：
Fernandez-Pacheco, A.
影响因子：
3.5
作者：
Begun, E.;Dobrovolskiy, O. V.;Huth, M.
通讯作者：
Huth, M.