Effects of the morphology of ZnO/Ag interface on the surface-plasmon-enhanced emission of ZnO films
Effects of the morphology of ZnO/Ag interface on the surface-plasmon-enhanced emission of ZnO films
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ZnO/Ag界面形貌对ZnO薄膜表面等离子体增强发射的影响
DOI：
10.1088/0022-3727/41/20/205101
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发表时间：
2008-10
影响因子：
3.4
通讯作者：
You, J. B.
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Fan, Y. M.;Zhang, X. W.;Cai, P. F.;Chen, N. F.;Yin, Z. G.;You, J. B.
利用光致发光光谱和原子力显微镜研究了Ag表面形貌对ZnO/Ag/Si薄膜表面等离子体增强发射的影响。结果表明，ZnO的紫外发射增强取决于银中间层的沉积条件。通过研究表面等离子体介导发射的增强比与银表面形貌特征参数的关系，我们发现表面等离子体与光的耦合是由银颗粒大小和密度决定的。
The effects of the surface morphology of Ag on the surface-plasmon-enhanced emission of ZnO films have been studied for a ZnO/Ag/Si system by photoluminescence spectroscopy and atomic force microscopy. The results indicate that the enhancement of ZnO ultraviolet emission is dependent on the deposition conditions of the Ag interlayers. By examining the dependence of the enhancement ratio of surface-plasmon-mediated emission on the characteristic parameters of Ag surface morphology, we found that the surface plasmon coupling to light is determined by both the Ag particle size and density.
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H. Stuart;D. Hall