Sample-and-Atomic Force Microscopy for Fast Operation
Sample-and-Atomic Force Microscopy for Fast Operation
复制标题
用于快速操作的样品和原子力显微镜
DOI：
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发表时间：
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期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Shiano Ono
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Takuji Takahashi;Shiano Ono
DOI：
10.1143/jjap.41.4851
发表时间：
2002-07-01
期刊：
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS
影响因子：
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作者：
Ando, T;Kodera, N;Toda, A
通讯作者：
Toda, A
DOI：
10.1073/pnas.211400898
发表时间：
2001-10-23
影响因子：
11.1
作者：
Ando, T;Kodera, N;Toda, A
通讯作者：
Toda, A
用于原子力显微镜扫描的采样保持成像
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
Jpn.J.Appl.Phys. 42
影响因子：
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作者：
Takuji Takahashi;Shiano Ono
通讯作者：
Shiano Ono