Observation of Nanosized Caps Structures on 6H-SiC(0001-) Substrates by Ultrahigh-Vacuum Scanning Tunneling Microscopy
Observation of Nanosized Caps Structures on 6H-SiC(0001-) Substrates by Ultrahigh-Vacuum Scanning Tunneling Microscopy
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利用超高真空扫描隧道显微镜观察 6H-SiC(0001-) 基底上的纳米帽结构
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
S. Naritsuka and M. Kusunoki
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. Bang;Y. Ito;Y. Kawamura;E. Hosoda;C. Yoshida;T. Maruyama;S. Naritsuka and M. Kusunoki
影响因子：
1.2
作者：
Kusunoki, M;Suzuki, T;Ito, M
通讯作者：
Ito, M
SiC 晶圆上自组织排列的碳纳米管薄膜
影响因子：
1.5
作者：
M. Kusunoki;J. Shibata;Masumi Rokkaku;T. Hirayama
通讯作者：
T. Hirayama