High resolution Fourier synthesis hard X-ray imaging based on CdTe strip detectors
High resolution Fourier synthesis hard X-ray imaging based on CdTe strip detectors
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基于CdTe条状探测器的高分辨率傅立叶合成硬X射线成像
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M.Kokubun et al.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
R.Miyawaki;H.Niko;Y.Okada;M.Kokubun et al.
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使用一维位置敏感探测器进行傅里叶合成图像重建。
影响因子：
1.9
作者：
J. Kotoku;K. Makishima;Y. Okada;H. Negoro;Y. Terada;H. Kaneda;M. Oda
通讯作者：
M. Oda
原型 Si/CdTe 康普顿相机和偏振测量
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
IEEE Trans.Nucl.Sci Vol.51 No.5I
影响因子：
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作者：
T.Mitani;T.Takahashi;et al.
通讯作者：
et al.
高分辨率肖特基 CdTe 二极管检测器
DOI：
10.1109/nssmic.2001.1009317
发表时间：
2001
期刊：
2001 IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record (Cat. No.01CH37310)
影响因子：
--
作者：
T. Takahashi;T. Mitani;Y. Kobayashi;M. Kouda;G. Sato;S. Watanabe;K. Nakazawa;Y. Okada;M. Funaki;R. Ohno;K. Mori
通讯作者：
K. Mori
基于 CdTe 和 CdZnTe 的像素和条形探测器开发的技术方面
DOI：
10.1109/nssmic.2000.949053
发表时间：
2000
期刊：
2000 IEEE Nuclear Science Symposium. Conference Record (Cat. No.00CH37149)
影响因子：
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作者：
V. Gostilo;V. Ivanov;S. Kostenko;I. Lisjutin;A. Loupilov;S. Nenonen;H. Sipila;K. Valpas
通讯作者：
K. Valpas
作为成像设备的调制准直器
DOI：
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发表时间：
1977
期刊：
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影响因子：
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作者：
牧島 一夫;宮本 重徳;村上 敏夫;西村 純;小田 稔;嘉明 小川原;田原 譲;K. Makishima;S. Miyamoto;T. Murakami;J. Nishimura;M. Oda;Y. Ogawara;Y. Tawara
通讯作者：
Y. Tawara