Demonstration of UV-Induced Threshold Voltage Instabilities in Vertical GaN Nanowire Array-Based Transistors

Demonstration of UV-Induced Threshold Voltage Instabilities in Vertical GaN Nanowire Array-Based Transistors
复制标题

垂直 GaN 纳米线阵列晶体管中紫外线引起的阈值电压不稳定性的演示

DOI:
10.1109/ted.2019.2904851
复制
发表时间:
2019
影响因子:
3.1
通讯作者:
Enrico Zanoni
Enrico Zanoni
中科院分区:
工程技术2区
文献类型:
--
作者:
M. Ruzzarin;M. Meneghini;Carlo de Santi;Andrea Neviani;Feng Yu;Klaas Strempel;Muhammad Fahlesa Fatahilah;Bernd Witzigmann;Hutomo Suryo Wasisto;Andreas Waag;Gaudenzio Meneghesso;Enrico Zanoni

文献摘要

参考文献

相似文献

GaN 垂直纳米线和鳍片功率 MISFET
DOI: --
发表时间: 2017
期刊: Device Research Conference
影响因子: --
作者:
Zongyang Hu;Wenshen Li;K. Nomoto;M. Zhu;Xiang Gao;M. Pilla;D. Jena;H. Xing
通讯作者: H. Xing
垂直氮化镓纳米线晶体管的性能分析与仿真
DOI: 10.1016/j.sse.2018.03.005
发表时间: 2018
影响因子: 1.7
作者:
B. Witzigmann;K. Frank;K. Strempel;M.F. Fatahilah;H.W. Schumacher;H.S. Wasisto;F. Römer;A. Waag
通讯作者: A. Waag
DOI: 10.1016/j.sse.2018.03.001
发表时间: 2018-07-01
影响因子: 1.7
作者:
Son, Dong-Hyeok;Jo, Young-Woo;Lee, Jung-Hee
通讯作者: Lee, Jung-Hee
块状 GaN 衬底上的垂直 GaN 功率 FET
DOI: --
发表时间: 2016
期刊: Device Research Conference
影响因子: --
作者:
Min;M. Pan;Xiang Gao;T. Palacios
通讯作者: T. Palacios
AlGaN/GaN电流孔径垂直电子晶体管
DOI: --
发表时间: 2002
期刊: 60th DRC. Conference Digest Device Research Conference
影响因子: --
作者:
I. Ben;Yee;S. Heikman;S. Denbaars;U. Mishra
通讯作者: U. Mishra