Sekundärionen Flugzeit Massenspektrometer

“二次离子质谱计在元素和同位素下的二次离子质谱计，以及一种矿物化的索威组织。Im lateralen Bereich Lassen Sich Auflösungen von约50 nm erzielen，im TiefenprofilsSogar im Bereich einzelner Aerlagen.我是IRS wird der Haupteinsatzzweck die Charakterisierung Radiaktiv konTaminierter Proben sein，Wie z.B.Umwell tproen，Nahrungsmittel order sgenannte hei？e Partikel Aus Unfällen in der Kerntech ik.从矿物学角度看，组织化学物质的迁移和自然迁移是不可能的。

„Das beantragte TOF SIMS Gerät (secondary-ion mass-spectrometer) dient der dreidimensionalen Kartierung von Element- und Isotopenverteilungen an mineralischen sowie organischen Oberflächen und an Partikeln. Im lateralen Bereich lassen sich Auflösungen von ca. 50 nm erzielen, im Tiefenprofil sogar im Bereich einzelner Atomlagen. Am IRS wird der Haupteinsatzzweck die Charakterisierung radioaktiv kontaminierter Proben sein, wie z. B. Umweltproben, Nahrungsmittel oder sogenannte heiße Partikel aus Unfällen in der Kerntechnik. Außerdem sollen Migrations- und Verteilungsverhalten von Radionukliden in mineralischen Phasen, aber auch in organischem Material und in Pflanzen bestimmt werden.“