Photoelektronenspektroskopie und Elektronen-Energieverlustspektroskopie mit hocheffizientem Multikanal-Spinpolarimeter

在上偏磁和超偏磁的Gebiet dünner Schichten gibt es interessante Fragestellungen，bisher experimentell努尔schlecht or der gar nicht zugänglich sind. Einige dieser Fragestellungen（z.B.非重复性现象在相的近端，自旋极化的电子-磁共振谱或自旋极化的费米面）的原理与自旋极化分析技术的研究韦尔登进行，这些都是不现实的实验方法的不一致性。本文介绍了一种用于韦尔登的电子学和光电学自旋极化分析的并行实验方法。本文介绍了一种基于SPLEED（自旋极化仪）的多通道分析仪显示技术。分析师的横向协调可以更好地进行||- 冲量补偿（k|| x，k|| y）oder einer k||-Komponente und der Energiecoordinate（k|| x，E）oder der Energiecoordinate und einer räumlichen Coordinate（x，E）auf der Probenoberfläche oder beiden lateralen Coordinaten（x，y）auf der Probenoberfläche zugordnet sein. Der Display-Spinanalysator ist für alle 4 Betriebsarbeiten identisch，die Unterschede liegen努尔in der entsprechenden Elektronenoptik vor und hinter dem Analysatorkristall（.）

Auf dem Gebiet des Oberflächenmagnetismus und des Magnetismus ultra dünner Schichten gibt es interessante Fragestellungen, die bisher experimentell nur schlecht oder gar nicht zugänglich sind. Einige dieser Fragestellungen (z.B. nicht-repetitive Phänomene in der Nähe von Phasen Übergängen, hochaufgelöste spinpolarisierte Elektronen-Verlustspektroskopie an Ferromagneten oder die spinaufgelöster Vermessung von Fermiflächen) können prinzipiell mit herkömmlichen Techniken der Spinpolarisationsanalyse untersucht werden, allerdings sind aufgrund der Ineffizienz der bekannten Methoden diese Experimente praktisch nicht realisierbar.Eine neuartige, parallel erfassende Methode zur Analyse der Spinpolarisation von gestreuten Elektronen und Photoelektronen soll für diese Experimente eingesetzt werden. Dazu wird eine Technik verwandt, welche auf der bekannten spinpolarisierten Niederenergie-Elektronenbeugung (SPLEED) basiert, bei welcher jedoch der Analysatorkristall in einer „Display-Technik als Multikanalanalysator eingesetzt wird. Die laterale Koordinate auf dem Analysatorkristall kann dabei entweder den beiden k||-Impulskomponenten (k||x, k||y) oder einer k||-Komponente und der Energiekoordinate (k||x, E) oder der Energiekoordinate und einer räumlichen Koordinate (x, E) auf der Probenoberfläche oder beiden lateralen Koordinaten (x, y) auf der Probenoberfläche zugeordnet sein. Der Display-Spinanalysator ist für alle 4 Betriebsarbeiten identisch, die Unterschiede liegen nur in der entsprechenden Elektronenoptik vor und hinter dem Analysatorkristall (...)