300kV Raster-Transmissionselektronenmikroskop

这是一种（光栅）透射电子显微镜韦尔登，它是一种高水平的电子显微镜，一种用于测量光学畸变的校正器，一种具有多个探测器的硅漂移共振光谱仪，一种双轴层析成像仪和一种360°旋转层析成像仪，它可以提供一种超声波直接电子显微镜。主要通过AG Rosenauer和MAPEX材料和加工中心完成。本文介绍了透射电子显微镜（TEM）的基本原理、测量原子的方法、测量原子的方法和测量原子的方法，以及STEM的定量方法和化学分析方法。B。in metallischen Nanodrähten，Halbleiterquantenpunkten，oxidischen Nanohyriden und dotierten CuO-Nanopartikeln durchführen zu können. Das Gerät soll Teil des DFG-Gerätezentrums der AG Rosenauer and des（aktuell noch virtuellen）Gerätezentrums des materialwissenschaftlichen Schwerpunktes MAPEX sein and den aktuell 55 Principal Investigators and ca. 30 Early Carrier Investigators，unterstützt durch die AG Rosenauer，zur Verfügung stehen.

Es soll ein (Raster-)Transmissionselektronenmikroskop beschafft werden, das als Hauptausstattungsmerkmale eine Elektronenquelle hoher Helligkeit, einen Korrektor für die sphärische Aberration der strahlformenden Optik, ein Si-Drift Röntenspektrometer mit mehreren Detektoren, einen Dual-axis Tomographiehalter und einen 360° Rotations-Tomographiehalter sowie eine ultraschnelle Direktelektronenkamera aufweist. Das Gerät wird primär durch die AG Rosenauer und das MAPEX Center for Materials and Processee genutzt. Dieses (S)TEM wird dringend benötigt, um kürzlich entwickelte Verfahren zur Messung atomarer Felder und Ladungsdichten einsetzen zu können, um Methoden zur quantitativen STEM auf den Bereich probe-korrigierter STEM zu erweitern und um örtlich hochaufgelöste chemische Analyse z. B. in metallischen Nanodrähten, Halbleiterquantenpunkten, oxidischen Nanohybriden und dotierten CuO-Nanopartikeln durchführen zu können. Das Gerät soll Teil des DFG-Gerätezentrums der AG Rosenauer und des (aktuell noch virtuellen) Gerätezentrums des materialwissenschaftlichen Schwerpunktes MAPEX sein und den aktuell 55 Principal investigators und ca. 30 Early Carrier Investigators, unterstützt durch die AG Rosenauer, zur Verfügung stehen.