Streuende Raster-Nahfeld optische Mikroskopie (s-SNOM)

在与容格法比较的基础上，作者提出了一种分析纳米结构的化学分析方法，并对其进行了详细的分析。约10 nm)Möglich。在化学分析中，我们发现了一种新的统计方法，即化学方法。Skönnnen sowohl Abbildungen MIT Kontrast auf base der Infrarototinder Probenvolumina erzeugt With Auch auch Komplette InfrarotSpektren von sehr kleinen Probenvolumina erzeugt.我们的方法是在纳米复合材料中使用特征和纳米结构的聚合物，而不是用化学的方法来确定材料和材料的特性。麻省理工学院的技术人员Lässt Sich keine Chemische分析了DUCHFühren，在Kombination MIT的荧光标记和Proben liefern nas notwendige auflösungsvermögen中对标准的XPS进行了分析。在Göttingen entwickeln的Makromolekularen化学中，-SNOM wird in Allen Bereichen der Forschung an Polymeren an Oberflächen sehr sehr volle Beiträge liefern and sich zu einer Standardg eingesetzten Method.

Die Streuende Raster-Nahfeld optische Mikroskopie (s-SNOM) ist eine relativ junge Methode, mithilfe derer chemische Analyse von nanostrukturierten Oberflächen mit einer Ortsauflösung von wenigen Nanometer (min. ca. 10 nm) möglich werden. Die chemische Analyse findet dabei durch ortsaufgelöste Infrarotspektroskopie statt, wodurch höchstaufgelöste chemische Karten von Oberflächen erzeugt werden. Es können sowohl Abbildungen mit Kontrast auf Basis der der Infrarotabsorption der Probe als auch komplette Infrarotspektren von sehr kleinen Probenvolumina erzeugt werden. Diese Methode ist für die Charakterisierung von nanostrukturierten Polymeroberflächen und von Oberflächen in Nanokompositen, bei der chemischen Funktionalisierung von Oberflächen sowie bei der Identifizierung von Mikrostrukturen in maßgeschneiderten Polymermaterialen von unschätzbarem Wert. Mit klassischer Rasterkraftmikroskopie lässt sich keine chemische Analyse durchführen, abbildende XPS oder STED-Mikroskopie in Kombination mit Fluoreszenzmarkierung der Proben liefern nicht das notwendige Auflösungsvermögen. Das s-SNOM wird in allen Bereichen der Forschung an Polymeren an Oberflächen sehr wertvolle Beiträge liefern und sich zu einer standardmäßig eingesetzten Methode in der Makromolekularen Chemie in Göttingen entwickeln.