Pulver-Diffraktometer

IAAC的粉末衍射仪韦尔登具有较高的频率。随着新材料科学在可持续材料研究所的发展，可持续材料的研究也成为新的研究方向，也为其他相关的韦尔登提供了研究。Mit der aktuellen Ausstattung（Transmissionsgeometrie）können diese nicht abgedeckt韦尔登. Beantragt将在反射几何中使用一种变量粉末衍射仪，以获得Sinterkörpern z的零阶自由特性。B。für die Thermoelektrik or der Proben auf Substraten ermöglicht，mit einem Wechslersystem zur schnellen Charakterisierung großer Probenmengen. Für den großen Anteil luftempfindlicher Verbindungen am Institut wird eine Messmöglichkeit mit Cu-Strahlung in Kapillaren benötigt.对相变材料或热分解材料的热稳定性的评估通常是一种很好的方法。对于研究者来说，纳米颗粒和核壳颗粒的特性是非常重要的。在Schichten Reflektometrie、GI-XRD和GISAXS- Messungen sowie Texturanalysen durchführen zu können中，这是一种3-Achsen-Eulerwiege erforderlich。Zur Bestimmung von Größe und Struktur von Nanopartikeln ist eine SAXS/GISAXS-Option nötig.两种最优方法都可以通过几何方法来确定最优的韦尔登。Die hohe Variabilität wird auch angestrebt，um für weitere Forschungsprojekte zusätzliche Messoptionen zu realisieren.

Die Pulverdiffraktometer des IAAC werden mit stetig steigender Frequenz verwendet. Durch die Neuschaffung einer materialwissenschaftlich ausgerichteten fünften Professur am Institut mit dem Studiengang Sustainable Materials ergeben sich neue Messanforderungen, die auch für die Forschung der anderen Arbeitsgruppen zunehmend relevant werden. Mit der aktuellen Ausstattung (Transmissionsgeometrie) können diese nicht abgedeckt werden. Beantragt wird ein variables Pulverdiffraktometer in Reflexionsgeometrie, das die zerstörungsfreie Charakterisierung von Sinterkörpern z. B. für die Thermoelektrik oder Proben auf Substraten ermöglicht, mit einem Wechslersystem zur schnellen Charakterisierung großer Probenmengen. Für den großen Anteil luftempfindlicher Verbindungen am Institut wird eine Messmöglichkeit mit Cu-Strahlung in Kapillaren benötigt. Zur Bestimmung von Phasenumwandlungen oder des thermischen Verhaltens von Katalysatormaterialien wird eine Ofenkammer beantragt. Für die Forschung dringend benötigt wird die Charakterisierung von dünnen Schichten, Nano- und Core-shell-partikeln. Um an Schichten Reflektometrie-, GI-XRD- und GISAXS- Messungen sowie Texturanalysen durchführen zu können, ist eine 3-Achsen-Eulerwiege erforderlich. Zur Bestimmung von Größe und Struktur von Nanopartikeln ist eine SAXS/GISAXS-Option nötig. Mittels zweier Optiken kann die Geometrie an die verschiedenen Messanforderungen optimal angepasst werden. Die hohe Variabilität wird auch angestrebt, um für weitere Forschungsprojekte zusätzliche Messoptionen zu realisieren.