On-line größenfraktionierte Elementanalyse von ultrafeinen Nanopartikeln

Während s.e.h e der气相合成纳米粒子粒子的合成与强化研究s.e.h e e e创新技术研究与发展<s:2> . r . e . Herstellung . mehrkomponentiger .纳米粒子的合成与强化研究，bleiben . d . MöglichkeitenDaher soll hier ein Gerät beantragt werden, das durch die comination aus einem größenselektiven Klassiergerät （U-SMPS：超细扫描迁移率粒度仪）和einem elementspezifischen质谱仪（ICP-MS：电感耦合等离子体质谱仪）erstlaubt， die Zusammensetzung von Nanopartikeln mit Durchmessern im eintelligent nanterbereich在线质谱分析仪。Diese ultrafinininnanopartikkeln zeigen night nur new physikalische, chemistry and optics Eigenschaften, sondenden auche völlig neutige materials Mischungen and Legierungen。in Gegensatz zu frheren Ansätzen erlaubt die组合von U-SMPS和ICP-MS， geringste Mengen超细纳米粒子（unterere Grenze ca. 1nm） größenklassiert in ihrer elements Zusammensetzung mit hoher zeitlicher und materialspezifischer Auflösung (Nachweisgrenze Im pt- bereich) zu charakterisien。Damit sollen größenabhängige Mischungsgrade与Dotierungen的最优估计和auchstumsstadien von Nanopartikeln sowie beschichtungsprozzesse erfast and verstanden werden。

Während sich bei der Gasphasensynthese von Nanopartikeln eine Reihe von innovativen Prozessen gerade auch für die Herstellung mehrkomponentiger Nanopartikeln zu etablieren beginnen, bleiben die Möglichkeiten der On-line-Analyse dieser komplexen Partikeln hinter den Syntheseanstrengungen zurück. Daher soll hier ein Gerät beantragt werden, das durch die Kombination aus einem größenselektiven Klassiergerät (U-SMPS: Ultrafine Scanning Mobility Particle Sizer) und einem elementspezifischen Massenspektrometer (ICP-MS: Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer) erstmals erlaubt, die Zusammensetzung von Nanopartikeln mit Durchmessern im einstelligen Nanometerbereich on-line zu analysieren. Diese ultrafeinen Nanopartikeln zeigen nicht nur neue physikalische, chemische und optische Eigenschaften, sondern bilden auch völlig neuartige Materialien als Mischungen und Legierungen. Im Gegensatz zu früheren Ansätzen erlaubt die Kombination von U-SMPS und ICP-MS, geringste Mengen ultrafeiner Nanopartikeln (untere Grenze ca. 1nm) größenklassiert in ihrer elementaren Zusammensetzung mit hoher zeitlicher und materialspezifischer Auflösung (Nachweisgrenze im ppt-Bereich) zu charakterisieren. Damit sollen größenabhängige Mischungsgrade und Dotierungen bestimmt und auch Wachstumsstadien von Nanopartikeln sowie Beschichtungsprozesse erfasst und verstanden werden.