Hochauflösendes Raster-Transmissionselektronenmikroskop (300kV)

柏林工业大学电子学研究中心（以下简称“电子学研究中心”）：德国电子学研究中心（以下简称“电子学”）。北京集团成立于1993年，是德国的一家跨国公司，是德国的一家跨国公司，是德国的一家跨国公司。In dem vorliegenden gemeinsamen Antrag fgr In the- art - 300 kV hochauflösendes（栅格）transmissionselektronenmikskop (S)TEM mit hochkohärenter Elektronenquelle, Probe-Cs Korrektor， EDX mit großem Raumwinkel und großem Abnahmewinkel sowie像素检测器sollen as spectra der analymethoden . aum Elementanalytik (vor allem element Mapping) bis hin zu atomarer Auflösung sowie des Strain-Mappings und der Messung von Potentialverteilungen erweitert werden。纳米结构材料与催化活性纳米粒子的研究与应用Trägern纳米结构材料与催化活性纳米粒子的研究与应用。Die Messungen werden flankiert von methodischen Weiterentwicklungen inssonere der ptychography, des strain Mapping， des静电势Mapping and der stem - holography， der Etablierung der EDX-Analyse and quantitative method。

Die Elektronenmikroskopie der TU Berlin ist konzentriert auf die Zentraleinrichtung Elektronenmikroskopie (ZELMI) sowie die Arbeitsgruppe von Prof. Lehmann (AG Lehmann). Beide Gruppen arbeiten mit unterschiedlichen Ausrichtungen und Aufgaben eng miteinander zusammen, haben eigene Forschungsschwerpunkte und sind in der Lehre sehr engagiert. In dem vorliegenden gemeinsamen Antrag für ein State-of-the-Art 300 kV hochauflösendes (Raster-) Transmissionselektronenmikroskop (S)TEM mit hochkohärenter Elektronenquelle, Probe-Cs Korrektor, EDX mit großem Raumwinkel und großem Abnahmewinkel sowie Pixelated-Detektor sollen das Spektrum der Analysemethoden u.a. um die Elementanalytik (vor allem Elemental Mapping) bis hin zu atomarer Auflösung sowie des Strain-Mappings und der Messung von Potentialverteilungen erweitert werden. Nanostrukturierte Halbleitermaterialien und katalytisch aktive Nanopartikel auf unterschiedlichen Trägern stehen im Vordergrund, die von Arbeitsgruppen aus verschiedenen Fachrichtungen entwickelt werden. Die Messungen werden flankiert von methodischen Weiterentwicklungen insbesondere der Ptychographie, des Strain-Mapping, des Electrostatic Potential Mapping und der STEM-Holographie sowie der Etablierung der EDX-Analyse als quantitative Methode.