Röntgenbeugung Diffraktometer

Der Schwerpenkt unserer Forschungsarbeiten im Fachbereich“Technologie für Dünschicht-Bauelemente”(TFD)liegt auf der Erforschung and Entwickung Neuer Dünschichtsystem e für Anwendungen in Electrktronischen and Opticktronischen Bauteilen.在DEM 2012中，我们将继续创新，携手为Fachbereich创造新的发展前景。对材料的分析和问题的研究是一种新的方法和方法。这些测试发现它阻碍了肠道的正常生长，并没有明显的特征。在此BU Unterstützung im Bereich der Mikroskopie(ZELMI)，der Chemischen Charakterisierung and im Bereich der Halbleiter-Charakterisierung，dasäuüerst wichtige Feld Strukturuntersuhungen an Dünschichtsystem en Mittels Röntgenbeugung(XRD)ist jedoch Nur Aufwändiberüber Externe e Kooperation合作伙伴Zugänglich。Der Aufbau eines für dünne Schichten augeleten Röntgen-Diffraktters ist von zentaler Wichtigkeit Nicht Nur für unsere Arbeit，sondern auchh für theatich benachbarte Fachgebiete。

Der Schwerpunkt unserer Forschungsarbeiten im Fachbereich „Technologie für Dünnschicht-Bauelemente“ (TFD) liegt auf der Erforschung und Entwicklung neuer Dünnschichtsysteme für Anwendungen in elektronischen und optoelektronischen Bauteilen. Die Erforschung innovativer Depositionsprozesse und neuer Materialien und Schichtsysteme gehen in dem 2012 neu gegründeten Fachbereich Hand in Hand. Die Analyse der materialwissenschaftlichen Probleme mit den Methoden der Dünnschicht-Charakterisierung ist hier von großer Bedeutung. Für die Schichtherstellung und anwendungsbezogene Tests sind wir bereits hinreichend gut aufgestellt, nicht jedoch für die materialwissenschaftliche Charakterisierung. Hier bietet die TU Unterstützung im Bereich der Mikroskopie (ZELMI), der chemischen Charakterisierung und im Bereich der Halbleiter-Charakterisierung, das äußerst wichtige Feld der Strukturuntersuchungen an Dünnschichtsystemen mittels Röntgenbeugung (XRD) ist jedoch nur aufwändig über externe Kooperationspartner zugänglich. Der Aufbau eines für dünne Schichten ausgelegten Röntgen-Diffraktometers ist von zentraler Wichtigkeit nicht nur für unsere Arbeit, sondern auch für thematisch benachbarte Fachgebiete.